PTQ-8晶体管综合快速筛选台具有对半导体器件常温测试，高温热测（不需要外加烘箱），热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。晶体管热敏参数的快速筛选技术，是采用在短时间内（一般为数秒）对晶体管施加稳态额定功率的办法，使晶体管的结温接近或允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数VBE、ICEO（或ICBO）和hFE，及其在加功率前后的变化量、变化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此为失效判据参量，淘汰标的晶体管，剔除早期失效器件，产品批的质量和性的目的，同时，所施加的稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。该快速筛选方法不能替代直流满功率老炼，快速剔除有潜在缺陷的器件，而且更加科学合理，并已列为行业标准SJ／T10415—93及国军标G128A—97.
PTQ—8晶体管综合快速筛选台已在原快速筛选仪器上作了大大改进，不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛，而且可作常规直流参数测试仪器使用，具有的测试量程和，只要调用被测器件的型号，就能进入快速连续检测。当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的，具有自动保护能力。
PTQ—8晶体管综合快速筛选台已在原快速筛选仪器上作了大大改进，不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛，而且可作常规直流参数测试仪器使用，具有的测试量程和，只要调用被测器件的型号，就能进入快速连续检测。当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的，具有自动保护能力。
