依据GB/T 13452.2-92、ISO 2808-1984设计制造。是利用千分表刻度盘指示被测物的厚度以µm表示。
适用于测量磁性、非磁性物体上涂层膜层厚度。漆膜须硬到经受住与千分尺卡头紧密接触时而无压痕。
设备仪器：
（1）测厚仪：2µm，重复性高
（2）千分表每年需经省市法定计量部门鉴定。
适用于测量磁性、非磁性物体上涂层膜层厚度。漆膜须硬到经受住与千分尺卡头紧密接触时而无压痕。
设备仪器：
（1）测厚仪：2µm，重复性高
（2）千分表每年需经省市法定计量部门鉴定。
