特点和优势：
（1）不受背景气体的影响
（2）不受粉尘与视窗污染的影响
（3）自动修正温度，压力对测量的影响产品详细信息激光分析仪产品介绍
一、半导体激光光谱吸收技术基本原理
半导体激光光谱吸收技术（diode laser absorption spectroscopy，DLAS）早于20世纪70年代提出。初期的DLAS技术只是一种实验室研究用技术，随着半导体激光技术在20世纪80年代的发展，DLAS技术开始被推广应用于大气研究、环境监测、诊断和航空航天等领域。是20世纪90年代以来，基于DLAS技术的现场在线分析仪表已逐渐发展成为熟，与非色散红外、电化学、色谱等传统工业过程分析仪表相比，具有可以实现现场原位测量、无需采样和预处理系统、测量准确、响应、维护工作量小等显著优势，在工业过程分析和污染源监测领域发挥着越来越重要的作用。
1.朗伯-比尔定律
DLAS技术本质上是一种光谱吸收技术，通过分析激光被气体的选择性吸收来获得气体的浓度。它与传统红外光谱吸收技术的不同之处在于，半导体激光光谱宽度远小于气体吸收谱线的展宽。因此，DLAS技术是一种高分辨率的光谱吸收技术，半导体激光穿过被测气体的光强衰减可用朗伯-比尔（Lambert-Beer）定律表述
式中，IV，0和IV 分别表示频率V的激光入射时和经过压力P，浓度X和光程L的气体后的光强；S（T）表示气体吸收谱线的强度；线性函数g（v-v0）表征该吸收谱线的形状。通常情况下气体的吸收较小，可用式（4-2）来近似表达气体的吸收。这些关系式表明气体浓度越高，对光的衰减也越大。因此，可通过测量气体对激光的衰减来测量气体的浓度。
2.光谱线的线强
气体分子的吸收总是和分子内部从态到态的能级跃迁相联系的。线强S（T）反映了跃迁过程中受激吸收、受激辐射和自发辐射之间强度的净效果，是吸收光谱谱线基本的属性，由能级间跃迁概率经及处于上下能级的分子数目决定。分子在不同能级之间的分布受温度的影响，因此光谱线的线强也与温度相关。如果知道参考线强S（T0），其他温度下的线强可以由下式求出式中，Q（T）为分子的配分函数；h为普朗克常数；c为；k为波尔兹曼常数；En为下能级能量。各种气体的吸收谱线的线强S（T0）可以查阅相关的光谱数据库。
JNYQ-G-8X为系列产品，根据应用要求不同，主要有以下几种组态型号：
JNYQ-G-81（原位型）
激光原位测量，响应速度快，测量高
集成式正压爆设计，
模块化设计，可现场更换功能模块，维护方便
智能化程度高、操作方便
JNYQ-G-82（旁路型）
激光旁路测量，测量高，干扰能力强
光学非接触测量，可直接测量高温、强腐蚀性气体
旁路处理装置简单、，可直接安装在过程管道处
全系统爆，支持气体温度、压力自动补偿
JNYQ-G-83（分布型）
分布式激光测量，支持八个测量通道，比
测量通道激光测量模块，性高
网络化集中显示和控制，监控方便
（1）不受背景气体的影响
（2）不受粉尘与视窗污染的影响
（3）自动修正温度，压力对测量的影响产品详细信息激光分析仪产品介绍
一、半导体激光光谱吸收技术基本原理
半导体激光光谱吸收技术（diode laser absorption spectroscopy，DLAS）早于20世纪70年代提出。初期的DLAS技术只是一种实验室研究用技术，随着半导体激光技术在20世纪80年代的发展，DLAS技术开始被推广应用于大气研究、环境监测、诊断和航空航天等领域。是20世纪90年代以来，基于DLAS技术的现场在线分析仪表已逐渐发展成为熟，与非色散红外、电化学、色谱等传统工业过程分析仪表相比，具有可以实现现场原位测量、无需采样和预处理系统、测量准确、响应、维护工作量小等显著优势，在工业过程分析和污染源监测领域发挥着越来越重要的作用。
1.朗伯-比尔定律
DLAS技术本质上是一种光谱吸收技术，通过分析激光被气体的选择性吸收来获得气体的浓度。它与传统红外光谱吸收技术的不同之处在于，半导体激光光谱宽度远小于气体吸收谱线的展宽。因此，DLAS技术是一种高分辨率的光谱吸收技术，半导体激光穿过被测气体的光强衰减可用朗伯-比尔（Lambert-Beer）定律表述
式中，IV，0和IV 分别表示频率V的激光入射时和经过压力P，浓度X和光程L的气体后的光强；S（T）表示气体吸收谱线的强度；线性函数g（v-v0）表征该吸收谱线的形状。通常情况下气体的吸收较小，可用式（4-2）来近似表达气体的吸收。这些关系式表明气体浓度越高，对光的衰减也越大。因此，可通过测量气体对激光的衰减来测量气体的浓度。
2.光谱线的线强
气体分子的吸收总是和分子内部从态到态的能级跃迁相联系的。线强S（T）反映了跃迁过程中受激吸收、受激辐射和自发辐射之间强度的净效果，是吸收光谱谱线基本的属性，由能级间跃迁概率经及处于上下能级的分子数目决定。分子在不同能级之间的分布受温度的影响，因此光谱线的线强也与温度相关。如果知道参考线强S（T0），其他温度下的线强可以由下式求出式中，Q（T）为分子的配分函数；h为普朗克常数；c为；k为波尔兹曼常数；En为下能级能量。各种气体的吸收谱线的线强S（T0）可以查阅相关的光谱数据库。
JNYQ-G-8X为系列产品，根据应用要求不同，主要有以下几种组态型号：
JNYQ-G-81（原位型）
激光原位测量，响应速度快，测量高
集成式正压爆设计，
模块化设计，可现场更换功能模块，维护方便
智能化程度高、操作方便
JNYQ-G-82（旁路型）
激光旁路测量，测量高，干扰能力强
光学非接触测量，可直接测量高温、强腐蚀性气体
旁路处理装置简单、，可直接安装在过程管道处
全系统爆，支持气体温度、压力自动补偿
JNYQ-G-83（分布型）
分布式激光测量，支持八个测量通道，比
测量通道激光测量模块，性高
网络化集中显示和控制，监控方便
