氧化硅比表面积测试仪
精微高博是氧化硅比表面积测试仪具的厂商，精微高博氧化硅比表面积测试仪一并荣获中国计量院测试证书，ISO9001及CE并且还有的产品是通过高新技术企业
精微高博氧化硅比表面积测试仪经技术鉴定，控制和测试国际水平，已在国内普遍应用。
氧化硅比表面积测试仪技术参数：
氧化硅比表面积测试仪测试原理：静态容量法，低温氮吸附（或其他吸附气体）；
氧化硅比表面积测试仪测试：≤±1.5%（比表面）；
氧化硅比表面积测试仪测试气体：高纯氮气（99.999%），或其它气体（如Ar、Kr、CH4、CO2等）；
氧化硅比表面积测试仪测试范围：0.01（m2/g）－－至无上限（比表面积）；
氧化硅比表面积测试仪分析站：4个样品分析站，可同时进行样品测试；
氧化硅比表面积测试仪杜瓦瓶：每个分析站原配单独的真空玻璃内胆杜瓦瓶，共4个；
氧化硅比表面积测试仪升降系统：4个样品分析站原位设有4套的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干扰；
氧化硅比表面积测试仪脱气系统：4个样品分析站标配同位、原位脱气系统：4个加热包，4套温控系统，均可程序升温控制，程序升温设置阶数多达10阶；另外可选配外置式异位4位真空脱气预处理系统；
氧化硅比表面积测试仪脱气温度：室温—400℃，±1℃；
氧化硅比表面积测试仪压力传感：样品分析站采用4个压力传感器（0-120KPa），±0.15%；
氧化硅比表面积测试仪真空泵：采用外置式双级旋片式机械真空泵（自动返油）；（不能采用内置式机械泵，避免机械泵的长时间震动影响测试，同时可以的延长仪器的使用寿命）
氧化硅比表面积测试仪限真空：限真空度4-6.7*10-2Pa；
氧化硅比表面积测试仪氮分压范围：P/Po 准确可控范围达10-4-0.998，可测1000点以上；
氧化硅比表面积测试仪数据控制方法：平衡压力智能控制法，吸脱附孔径分布分析分六段优化设置，全自动控制；
氧化硅比表面积测试仪应用领域：吸附剂（如碳，硅胶，氧化铝，分子筛，炭，硅酸钙，海泡石，沸石等）；陶瓷原材料（如氧化铝，氧化锆，硅酸盐，氮化铝，二氧化硅，氧化钇，氮化硅，石英，碳化硅等）；橡塑材料补强剂（如炭黑，白碳黑，纳米碳酸钙，碳黑，白炭黑等）；电池材料（如钴酸锂，锰酸锂，石墨，镍钴酸锂，氧化钴，磷酸铁锂，钛酸锂，三元素，三元素材料，聚合物，聚合物材料，聚合物电池材料，碱锰材料，锂离子材料，锂锰材料，碱性材料，锌锰材料，石英粉，镁锰材料，碳性材料，锌空材料，锌汞材料，乙炔黑，镍氢材料，镍镉材料，隔膜，物资，添加剂，导电剂，缓蚀剂，锰粉，电解二氧化锰，石墨粉，氢氧化亚镍，泡沫镍，改性石墨材料，正物质，负物质，锌粉等）；金属氧化物（如氧化锌，氧化钙，氧化钠，氧化镁，氧化钡，氧化铁，氧化铜等）；磁性粉末材料（如四氧化三铁，铁氧体，氧化亚铁等）；纳米金属材料（如纳米银粉，铁粉，铜粉，钨粉，镍粉，铝粉，钴粉等）；行业（如颜填料，柱填料，无机颜料，碳酸钙，氧化硅，矿物粉，沉积物，悬浮物等）；无机粉体材料（如氧化钛，二氧化钛等）；纳米材料（如纳米粉体材料，纳米陶瓷材料等）；稀土，煤炭，水泥，储能材料，催化剂（硅藻土），净化剂，助滤剂，发光稀土粉末材料，粉体材料，粉末材料，细纤维，多孔织物，复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析，广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控。
氧化硅比表面积测试仪的研发商
研发比表面，比表面积，比表面积仪，比表面测定仪，真密度仪，真密度测试仪，比表面积测试仪，比表面积测定仪，比表面及孔径分析仪，比表面积分析仪，孔径分析仪，孔径分布，孔隙率测定仪，孔隙率分析仪，孔隙度分析仪，比表面及孔隙率测定仪，孔容测定仪，物理吸附仪等。
精微高博是一家以研发，生产及销售氧化硅比表面积测试仪器检测仪器的具有的公司
本公司经营比表面，氧化硅比表面积测试仪，比表面测定仪，比表面分析仪，比表面及孔径分析仪，比表面测试等，质量，欢迎咨询洽谈。
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