1MHz〜3GHz，以10KHz分档
阻测量范围宽，从200mΩ到3kΩ
在低试信号电平上具有优良的测量重复性
基本为1%
测量：10ms
安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz〜3 GHz频率范围可以提供、和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻范围进行测量。
生产率高、质量
安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度快。此外，在小测试电流（100mA）处优良的测试重复性还可以显著生产率，因为所需的取平均过程短。
系统组建简单
测试头电缆（1m或利用延伸电缆时为2m）很容易接到（元件固定装置的）被测件接点附近，而不会使误差有任何。内置比较器功能、GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作夹具。
技术指标
测量参数：｜Z｜，｜Y｜，L，C，R，D，Q，X，G，B，θ
测量电路形式：串联和并联
工作频率：1 MHz〜3 GHz
备注：本公司长期收购二手高频仪器示波器网络分析仪综合测试仪频谱分析仪信号发生器噪声系数分析仪电源功率计频率计 LCR电子测试仪电子负载校准仪 GPIB卡等。
阻测量范围宽，从200mΩ到3kΩ
在低试信号电平上具有优良的测量重复性
基本为1%
测量：10ms
安捷伦 4287A射频LCR测试仪在1 MHz〜3 GHz频率范围可以提供、和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻范围进行测量。
生产率高、质量
安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度快。此外，在小测试电流（100mA）处优良的测试重复性还可以显著生产率，因为所需的取平均过程短。
系统组建简单
测试头电缆（1m或利用延伸电缆时为2m）很容易接到（元件固定装置的）被测件接点附近，而不会使误差有任何。内置比较器功能、GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作夹具。
技术指标
测量参数：｜Z｜，｜Y｜，L，C，R，D，Q，X，G，B，θ
测量电路形式：串联和并联
工作频率：1 MHz〜3 GHz
备注：本公司长期收购二手高频仪器示波器网络分析仪综合测试仪频谱分析仪信号发生器噪声系数分析仪电源功率计频率计 LCR电子测试仪电子负载校准仪 GPIB卡等。
