全自动比表面积及孔结构孔径分布测量仪V-Sorb 2800P是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测试原理.相比国内同类产品,多项技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步,测试过程的稳定性更强,国际同类产品水平,部分功能国外产品.
金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取上海计量院检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中一家注册资本的生产企业,让您选购的产品无后顾之忧!
全自动静态容量法比表面积及孔结构孔径分布测量仪性能参数
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布测量,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-400nm(孔径)
测量:重复性误差小于1.5%
真空系统:V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路体积空间,检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而孔径分布测量的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大密封性和仪器使用寿命.
液位控制:V-Sorb的液氮面控制系统,测试液氮面相对样品管位置保持不变,因体积变化引入的测量误差
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和干扰能力,仪器稳定性和使用寿命.
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理
压力测量:采用压力分段测量的双压力传感器,显著低 P/Po点下测试,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)
压力:硅薄膜压力传感器,达实际读数的0.15％,全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％)
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995
限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
全自动静态容量法比表面积及孔结构孔径分布测量仪特点
A.比表面积及孔结构孔径分布测量仪真空系统
1)的一体化集装式管路系统,采用集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,限真空度.
2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换.
3)采用中德合资的真空泵,噪音小,运行稳定,油返功能卓越,限真空度高,可达4x10－2Pa (3x10－4Torr)
B.比表面积及孔结构孔径分布测量仪控制系统
1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,干扰能力强,稳定性大大,安装及拆卸都方便;
2)设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.
C.比表面积及孔结构孔径分布测量仪测试措施
1)采用与同类产品相同品牌的高硅薄膜压力传感器,压力测量为相应读数的0.15％,远远0.15％的全量程(FS)传感器;
2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr的硅薄膜压力传感器远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％);
3)的一体化集装式管路系统,采用集装管路,显著减少管路连接点,大大减少体积空间,有利于降低测量误差;
4)的步进式液氮面控制系统,测试液氮面相对样品管位置保持不变,因体积变化引入的测量误差;
5)设计的抽气及进气控制系统,样品抽真空和进气过程中的飞溅,测试气路的清洁和样品质量失,保护高压力传感器免受压力变可能导致的点和线性漂移.
D.比表面积及孔结构孔径分布测量仪数据采集及处理
1)采用高及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和U通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.
金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取上海计量院检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中一家注册资本的生产企业,让您选购的产品无后顾之忧!
全自动静态容量法比表面积及孔结构孔径分布测量仪性能参数
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布测量,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-400nm(孔径)
测量:重复性误差小于1.5%
真空系统:V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路体积空间,检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而孔径分布测量的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大密封性和仪器使用寿命.
液位控制:V-Sorb的液氮面控制系统,测试液氮面相对样品管位置保持不变,因体积变化引入的测量误差
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和干扰能力,仪器稳定性和使用寿命.
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理
压力测量:采用压力分段测量的双压力传感器,显著低 P/Po点下测试,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)
压力:硅薄膜压力传感器,达实际读数的0.15％,全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％)
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995
限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
全自动静态容量法比表面积及孔结构孔径分布测量仪特点
A.比表面积及孔结构孔径分布测量仪真空系统
1)的一体化集装式管路系统,采用集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,限真空度.
2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换.
3)采用中德合资的真空泵,噪音小,运行稳定,油返功能卓越,限真空度高,可达4x10－2Pa (3x10－4Torr)
B.比表面积及孔结构孔径分布测量仪控制系统
1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,干扰能力强,稳定性大大,安装及拆卸都方便;
2)设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.
C.比表面积及孔结构孔径分布测量仪测试措施
1)采用与同类产品相同品牌的高硅薄膜压力传感器,压力测量为相应读数的0.15％,远远0.15％的全量程(FS)传感器;
2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr的硅薄膜压力传感器远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％);
3)的一体化集装式管路系统,采用集装管路,显著减少管路连接点,大大减少体积空间,有利于降低测量误差;
4)的步进式液氮面控制系统,测试液氮面相对样品管位置保持不变,因体积变化引入的测量误差;
5)设计的抽气及进气控制系统,样品抽真空和进气过程中的飞溅,测试气路的清洁和样品质量失,保护高压力传感器免受压力变可能导致的点和线性漂移.
D.比表面积及孔结构孔径分布测量仪数据采集及处理
1)采用高及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和U通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.
