静态法比表面及介孔分布测定仪（静态容量法）是北京精微高博科学技术有限公司独自开发设计、生产制造与销售的仪器，本公司有静态容量法和动态色谱法两大类六种型号，静态容量法比表面及介孔分布测定仪是与国外同类产品相同质量和功能的仪器。静态容量法比表面及介孔分布测定仪在国外普遍采用，JW-BK和JW-RB为本公司的静态容量法比表面积及比表面及介孔分布测定仪，性能国外同类水平，深受国内用户欢迎。国内院校应用，如北大深圳研究生院、北京中医药大学、华东理工大学、江南大学、渭南师范学院、凯迪股份有限公司等等；
静态法比表面及介孔分布测定仪产品特点：
1.自主知识产权，比表面及介孔分布测定仪器功能与性能国际水平，可以代替；
2.比表面及介孔分布测定仪自动化程度很高，可以做到无人值守；
3.的真空及气路设计，采用了的内置式微型调节阀；
4.的无泄漏（10-9CC／sec）无污染的真空系统；
5.稳定性的高灵敏压力传感器（0.25％）；
6.相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术；
7.氮吸附、氮脱附压力及平衡时间可以自由设置，做到选择；
8.软件功能，在计算机屏幕上实时显示测试比表面积及孔径分布的实验过程，比表面积及孔径分布试验结果同步得出；
9.可以单从吸附曲线得出BJH孔径分布，测试比表面积及孔径分布的时间可以节省一半；
10.只用高纯氮气，不用氦气；
11.高质量液氮杜瓦瓶及密封装置，大大降低了液氮的消耗；
12.与国外比表面及介孔分布测定仪器相比，具有的性价比；
13.国产比表面及介孔分布测定仪器维修及售后服务及其方便。
静态法比表面及介孔分布测定仪的特性如下：
静态法比表面及介孔分布测定仪的主要功能：可实行BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积测试，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；
真空系统：限真空度6×10²Pa
测量范围：比表面积≥0.01M²／g 至无规定上限，孔尺寸 0.7～400nm；
样品数量：可同时测定1-4个样品；
测量：≤&plun;2％；
静态法比表面及介孔分布测定仪的压力控制：高压力传感器，数字显示， 0.2％，的充气与抽气速度自动控制系统。
静态法比表面及介孔分布测定仪的运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试。
静态法比表面及介孔分布测定仪的测试时间：多点BET法比表面积平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品钟。
测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量小。
吸附过程：样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗少。
静态法比表面及介孔分布测定仪的软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，比表面积及比表面及介孔分布测定仪测试过程、可查看已完成部分的测试数据；本机软件大、界面友好、兼容性高、使用方便；
静态法比表面及介孔分布测定仪的应用领域：催化剂，广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；吸附剂，如炭、分子筛、氧化铝等，广泛用于领域；颜填料，无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等；陶瓷材料原料，氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等；新型电池材料，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电材料；发光稀土粉末材料；磁性粉末材料，如四氧化三铁、铁氧体等；纳米粉体材料，包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料，纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等；其他，如细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等。
静态法比表面及介孔分布测定仪产品特点：
1.自主知识产权，比表面及介孔分布测定仪器功能与性能国际水平，可以代替；
2.比表面及介孔分布测定仪自动化程度很高，可以做到无人值守；
3.的真空及气路设计，采用了的内置式微型调节阀；
4.的无泄漏（10-9CC／sec）无污染的真空系统；
5.稳定性的高灵敏压力传感器（0.25％）；
6.相对压力-平衡时间的全自动控制及平衡技术；
7.氮吸附、氮脱附压力及平衡时间可以自由设置，做到选择；
8.软件功能，在计算机屏幕上实时显示测试比表面积及孔径分布的实验过程，比表面积及孔径分布试验结果同步得出；
9.可以单从吸附曲线得出BJH孔径分布，测试比表面积及孔径分布的时间可以节省一半；
10.只用高纯氮气，不用氦气；
11.高质量液氮杜瓦瓶及密封装置，大大降低了液氮的消耗；
12.与国外比表面及介孔分布测定仪器相比，具有的性价比；
13.国产比表面及介孔分布测定仪器维修及售后服务及其方便。
静态法比表面及介孔分布测定仪的特性如下：
静态法比表面及介孔分布测定仪的主要功能：可实行BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积测试，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；
真空系统：限真空度6×10²Pa
测量范围：比表面积≥0.01M²／g 至无规定上限，孔尺寸 0.7～400nm；
样品数量：可同时测定1-4个样品；
测量：≤&plun;2％；
静态法比表面及介孔分布测定仪的压力控制：高压力传感器，数字显示， 0.2％，的充气与抽气速度自动控制系统。
静态法比表面及介孔分布测定仪的运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试。
静态法比表面及介孔分布测定仪的测试时间：多点BET法比表面积平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品钟。
测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量小。
吸附过程：样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗少。
静态法比表面及介孔分布测定仪的软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，比表面积及比表面及介孔分布测定仪测试过程、可查看已完成部分的测试数据；本机软件大、界面友好、兼容性高、使用方便；
静态法比表面及介孔分布测定仪的应用领域：催化剂，广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；吸附剂，如炭、分子筛、氧化铝等，广泛用于领域；颜填料，无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等；陶瓷材料原料，氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等；新型电池材料，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电材料；发光稀土粉末材料；磁性粉末材料，如四氧化三铁、铁氧体等；纳米粉体材料，包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料，纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等；其他，如细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等。
