应用领域
RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）
无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）
玩具指令筛选检测
日用消费品中限制元素筛选检测
合金成分分析
适用于：
CN-RoHS指定检测实验室
大型企业集团中心检测实验室
分析方法及系统软件
分析方法配置：
基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
经验系数法
理论α系数法
软件功能描述：
RoHS指令、无卤指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
聚合物等材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
分析的自主定制与输出打印
分析结果的保存、查询及统计
On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
多层镀层厚度测量功能
主要配置
SDD硅漂移电制冷半导体探测器
侧窗钼（Mo）靶管
标配16组复合滤光片
配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
具有自动Mapping功能
具备合中国标准的样品混侧功能
内置标准工作曲线
配置On-line实时在线技术支持与服务平台
具备开放工作曲线技术平台
分析软件操作系统分级管理。
产品参数
名称：X荧光光谱仪
型号：NDA500
输入电压：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
环境温度：15-30℃
环境湿度：≤80%（不结露）
主机外形（mm）：长＊宽＊高＝900*500*440
样品仓（mm）：长＊宽＊高＝430*380*120
主机重量：约60公斤
技术指标
元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
测量时间：
对聚合物材料，典型测量时间为30秒
对铜基体材料，典型测量时间为30秒
检出限指标（LOD）：
对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg。
RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）
无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）
玩具指令筛选检测
日用消费品中限制元素筛选检测
合金成分分析
适用于：
CN-RoHS指定检测实验室
大型企业集团中心检测实验室
分析方法及系统软件
分析方法配置：
基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
经验系数法
理论α系数法
软件功能描述：
RoHS指令、无卤指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
聚合物等材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
分析的自主定制与输出打印
分析结果的保存、查询及统计
On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
多层镀层厚度测量功能
主要配置
SDD硅漂移电制冷半导体探测器
侧窗钼（Mo）靶管
标配16组复合滤光片
配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
具有自动Mapping功能
具备合中国标准的样品混侧功能
内置标准工作曲线
配置On-line实时在线技术支持与服务平台
具备开放工作曲线技术平台
分析软件操作系统分级管理。
产品参数
名称：X荧光光谱仪
型号：NDA500
输入电压：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
环境温度：15-30℃
环境湿度：≤80%（不结露）
主机外形（mm）：长＊宽＊高＝900*500*440
样品仓（mm）：长＊宽＊高＝430*380*120
主机重量：约60公斤
技术指标
元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
测量时间：
对聚合物材料，典型测量时间为30秒
对铜基体材料，典型测量时间为30秒
检出限指标（LOD）：
对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg。
