X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。是近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为的分析。
为满足这种需求,的EDX系列了更高的灵敏度与。
测定原理 X射线荧光分析法
测定方法能量色散型
测定对象固体、液体、粉状
测定范围 13Ai~92U
样品室尺寸W370*D320*H155mm
测定ppm级的有害金属!
应对WEEE&RoHS、ELV等有害物质相关法规。
应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,产品和用料的绿色。
X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。是近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为的分析。
为满足这种需求,的EDX系列了更高的灵敏度与。