天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、、直观及五大特点，采用25mm2大面积铍窗探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果合国标GB-1887《饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属饰含量的检测方法X射线荧光谱法》的要求。
性能特点
三重保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试X荧光分析软件
与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图
采用世界上的SDD硅漂移探测器，分辨率至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选优质组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦
技术指标
测量元素范围：从硫（S）至铀（U）
测量对象状态：粉末、固体、液体
同时分析元素：24种元素同时分析
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
能量分辨率为：140&plun;5ev
分析：0.05%（96%）以上
测量时间：60s-200s（可调）
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
环境温度：10℃-30℃
环境湿度：35%-70%
输入电压：AC 10V/20V
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
样品腔尺寸：334×500×80mm
外观尺寸：670×533×85 mm
重量：80kg
标准配置
美国Amptek原装SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）
软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）
应用领域
黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等
性能特点
三重保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
任意多个可选择的分析和识别模型
高信噪比的电子线路单元
全元素测试X荧光分析软件
与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图
采用世界上的SDD硅漂移探测器，分辨率至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选优质组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦
技术指标
测量元素范围：从硫（S）至铀（U）
测量对象状态：粉末、固体、液体
同时分析元素：24种元素同时分析
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
能量分辨率为：140&plun;5ev
分析：0.05%（96%）以上
测量时间：60s-200s（可调）
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
环境温度：10℃-30℃
环境湿度：35%-70%
输入电压：AC 10V/20V
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
样品腔尺寸：334×500×80mm
外观尺寸：670×533×85 mm
重量：80kg
标准配置
美国Amptek原装SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配）
软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）
应用领域
黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝饰中轻元素的检测。
分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等
