应用领域
？RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）
？无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）
？玩具指令筛选检测
应用领域
？RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）
？无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）
？玩具指令筛选检测
？日用消费品中限制元素筛选检测
？合金成分分析
适用于：
？CN-RoHS指定检测实验室
？大型企业集团中心检测实验室
分析方法及系统软件
分析方法配置：
？ 基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
？ 经验系数法
？ 理论α系数法
软件功能描述：
？ RoHS指令、无卤指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
？ 各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
？ 聚合物等材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
？ 分析的自主定制与输出打印
？ 分析结果的保存、查询及统计
？ On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
？多层镀层厚度测量功能
主要配置
？SDD硅漂移电制冷半导体探测器
？侧窗钼（Mo）靶管
？标配16组复合滤光片
？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
？具有自动Mapping功能
？具备合中国标准的样品混侧功能
？内置标准工作曲线
？配置On-line实时在线技术支持与服务平台
？具备开放工作曲线技术平台
？分析软件操作系统分级管理
产品参数
？名称：X荧光光谱仪
？型号：NDA500
？输入电压：220±5V/50Hz
？消耗功率：≤500W
？环境温度：15-30℃
？环境湿度：≤80%（不结露）
？主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440
？样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120
？主机重量：约60公斤
技术指标
？元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
？测量时间：
对聚合物材料，典型测量时间为30秒
对铜基体材料，典型测量时间为30秒
？检出限指标（LOD）：
对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
？RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）
？无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）
？玩具指令筛选检测
应用领域
？RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）
？无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）
？玩具指令筛选检测
？日用消费品中限制元素筛选检测
？合金成分分析
适用于：
？CN-RoHS指定检测实验室
？大型企业集团中心检测实验室
分析方法及系统软件
分析方法配置：
？ 基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
？ 经验系数法
？ 理论α系数法
软件功能描述：
？ RoHS指令、无卤指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
？ 各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
？ 聚合物等材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
？ 分析的自主定制与输出打印
？ 分析结果的保存、查询及统计
？ On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
？多层镀层厚度测量功能
主要配置
？SDD硅漂移电制冷半导体探测器
？侧窗钼（Mo）靶管
？标配16组复合滤光片
？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
？具有自动Mapping功能
？具备合中国标准的样品混侧功能
？内置标准工作曲线
？配置On-line实时在线技术支持与服务平台
？具备开放工作曲线技术平台
？分析软件操作系统分级管理
产品参数
？名称：X荧光光谱仪
？型号：NDA500
？输入电压：220±5V/50Hz
？消耗功率：≤500W
？环境温度：15-30℃
？环境湿度：≤80%（不结露）
？主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440
？样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120
？主机重量：约60公斤
技术指标
？元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
？测量时间：
对聚合物材料，典型测量时间为30秒
对铜基体材料，典型测量时间为30秒
？检出限指标（LOD）：
对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
