B-220涂层测厚仪技术参数采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；测量范围：（0～1250）μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；分辨率：0.1μm（F1、N1测头）示值：±（3%H＋1）μm；H为被测涂层厚度显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；存储容量：可存储20组（每组多50个测量值）测量数据单位制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换
以上是涂层测厚仪简介如有需要请来电。
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其他说明
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序号 |
名称 |
数量 |
备注 |
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标准 配置 |
1 |
主机 |
1台 |
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2 |
F1测头 |
1只 |
或N1测头 |
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3 |
校准片 |
5片 |
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4 |
校基体 |
1块 |
根据测头选配 |
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5 |
仪器箱 |
1只 |
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6 |
随机资料 |
1份 |
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7 |
AA(5号)尺寸碱性电池 |
2只 |
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可选 配置 |
8 |
其它类型测头 |
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根据用途选择 |
| 9 |
数据管理软件 |
1套 |
软件光盘 |
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10 |
U通讯线缆 |
1条 |
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