？ 应用领域：钢铁冶金行业的粉样分析，金属矿山的矿料分析、水泥全元素检测等
性能特点：上照射式结构，直接避免了粉尘掉落对光管和探测系统的污染和损害
自带样品旋转的升降平台使用方便，测量更准确
高分辨率的电致冷SDD探测器和的数字处理技术大幅了分析的
根据不同的样品自动的切换准直器、滤片和抽放真空，仪器高度智能化
全自动的分析软件使得操作更加简单、方便 EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
CIT-3000SMC能量色散X荧光分析仪2003年被科技部、质监总局、税务总局等五部位联合批准为“重点新产品”，是十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用X光管进行激发，采用了国外的半导体电制冷探测器进行探测，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，性可以完成20多种元素的快速、准确分析。
适用范围：
钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、钛精矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析。
耐火材料：各类样品成份分析。
有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析。
质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。
适用环境
环境温度要求：15℃-30℃（建议有空调的环境使用）
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
性能特点
采用国际的数字化多道脉冲分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
采用X光管激发样品，激发待测元素，韧致辐射型，Be（铍）窗厚50μm，靶材Ag（银
靶），功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；
采用世界上的半导体探测器，分辨率高，160ev，无需液氮制冷，使用方
便，可以性完成对多种元素的探测；
高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，高，无故障操作；
样品种类：粉状；
腔内环境：空气或真空；
真空环境测量，了轻元素的激发效率和测量范围；
2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便
了解样品的组成；
可性实现20多种元素的快速、、准确分析；
自动寻峰，消除谱峰漂移影响，仪器长期稳定；
的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要
建立库文件；
全中文Windows应用软件，操作简单；
融合了一系列的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、精准的背景扣除方
法、微商自动寻峰和Quasi-Newton（准牛顿）优化算法等；
国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法
等多种经典分析方法，测试数据的准确性；
可根据用户要求自行定制测试输出格式（Excel、PDF等），合工厂多种统计及格式要
求；
数据管理设有用户，加强测试数据的严肃性及质量品控的性。EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
技术参数
分析元素：Na-U等。
分析范围：1ppm-99.99%。
同时分析：26种元素同时分析。
能量范围：1-50keV.
测量时间：1-3分钟可以完成待测元素的含量分析。
电制冷半导体探测器的分辨率：160ev.
管电压：0-50Kv 管电流：1～1000μA.
仪器的分析：标准偏差≤0.08%。
分析误差：标准要求。
辐射剂量：<25μsv/h.
仪器重量：65Kg；仪器尺寸：650（W）×600（D）×730（H）mm EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
性能特点：上照射式结构，直接避免了粉尘掉落对光管和探测系统的污染和损害
自带样品旋转的升降平台使用方便，测量更准确
高分辨率的电致冷SDD探测器和的数字处理技术大幅了分析的
根据不同的样品自动的切换准直器、滤片和抽放真空，仪器高度智能化
全自动的分析软件使得操作更加简单、方便 EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
CIT-3000SMC能量色散X荧光分析仪2003年被科技部、质监总局、税务总局等五部位联合批准为“重点新产品”，是十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用X光管进行激发，采用了国外的半导体电制冷探测器进行探测，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，性可以完成20多种元素的快速、准确分析。
适用范围：
钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、钛精矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析。
耐火材料：各类样品成份分析。
有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析。
质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。
适用环境
环境温度要求：15℃-30℃（建议有空调的环境使用）
环境相对湿度：<70%
工作电源：交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
性能特点
采用国际的数字化多道脉冲分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
采用X光管激发样品，激发待测元素，韧致辐射型，Be（铍）窗厚50μm，靶材Ag（银
靶），功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；
采用世界上的半导体探测器，分辨率高，160ev，无需液氮制冷，使用方
便，可以性完成对多种元素的探测；
高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，高，无故障操作；
样品种类：粉状；
腔内环境：空气或真空；
真空环境测量，了轻元素的激发效率和测量范围；
2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便
了解样品的组成；
可性实现20多种元素的快速、、准确分析；
自动寻峰，消除谱峰漂移影响，仪器长期稳定；
的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要
建立库文件；
全中文Windows应用软件，操作简单；
融合了一系列的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、精准的背景扣除方
法、微商自动寻峰和Quasi-Newton（准牛顿）优化算法等；
国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法
等多种经典分析方法，测试数据的准确性；
可根据用户要求自行定制测试输出格式（Excel、PDF等），合工厂多种统计及格式要
求；
数据管理设有用户，加强测试数据的严肃性及质量品控的性。EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
技术参数
分析元素：Na-U等。
分析范围：1ppm-99.99%。
同时分析：26种元素同时分析。
能量范围：1-50keV.
测量时间：1-3分钟可以完成待测元素的含量分析。
电制冷半导体探测器的分辨率：160ev.
管电压：0-50Kv 管电流：1～1000μA.
仪器的分析：标准偏差≤0.08%。
分析误差：标准要求。
辐射剂量：<25μsv/h.
仪器重量：65Kg；仪器尺寸：650（W）×600（D）×730（H）mm EDX3600B\EDX3600H\EDX1800B\EDX1800BS/EDX2000H相同配置
