EDX8000 x荧光光谱仪
产品名称：x荧光光谱仪
产品型号：EDX8000
简单介绍：用于RoHS检测和镀层检测
EDX8000 x荧光光谱仪的详细说明
x荧光光谱仪EDX8000（XRF EDX8000）x荧光光谱仪EDX8000技术参数
分析：0.05％
分析范围：1ppm-99.9％
测量元素：从硫至铀等75种元素
测量对象：粉末、固体、液体分析电镀溶液中的金属离子浓度可分析10层以上的镀层测试镀层薄至0.005μm
步进小距离：0.01mm
测量时间：60-300s
工作温度：13-30℃
相对湿度：≤70％
重量：30kg 工作电压：AC110V／220V
配置：单样品腔计算机、喷墨打印机，硅针半导体探测器，放大电路，高低压电源X光管。
x荧光光谱仪EDX8000特点：定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测双激光定位系统，50至100倍物体放大逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱对各个检测点的数据结果进行综合分析，并将结果显示出来。
产品名称：x荧光光谱仪
产品型号：EDX8000
简单介绍：用于RoHS检测和镀层检测
EDX8000 x荧光光谱仪的详细说明
x荧光光谱仪EDX8000（XRF EDX8000）x荧光光谱仪EDX8000技术参数
分析：0.05％
分析范围：1ppm-99.9％
测量元素：从硫至铀等75种元素
测量对象：粉末、固体、液体分析电镀溶液中的金属离子浓度可分析10层以上的镀层测试镀层薄至0.005μm
步进小距离：0.01mm
测量时间：60-300s
工作温度：13-30℃
相对湿度：≤70％
重量：30kg 工作电压：AC110V／220V
配置：单样品腔计算机、喷墨打印机，硅针半导体探测器，放大电路，高低压电源X光管。
x荧光光谱仪EDX8000特点：定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测双激光定位系统，50至100倍物体放大逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱对各个检测点的数据结果进行综合分析，并将结果显示出来。
