CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟RoHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高的分析测试设备。
适用范围
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、CD、Cr）和卤素检测；
性能特点
采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
采用美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术，能量分辨率150eV；
40KV-钨靶微型X射线管；
采用2048道多道分析器，分析更高；
一体化设计，性能稳定，运行，；操作简单，测量时间短，同时配备PC机；
测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单；
技术指标
分析元素范围：Na-U
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
探测器能量分辨率150eV
检出限：CD/Cr/Hg/Br≤1ppm，Pb≤2ppm，Cl≤20PPm
校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据
测量范围：1－40KeV
高压：0kV-40kV
管流：0μA-100μA
的稳定电源：AC 220V&plun;1%，50Hz（采用国内的稳压电源1000VA）
检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）
圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm；
工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃
工作环境相对湿度：≤99%（不结露）
额定功率：50W
仪器重量：25Kg
仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm
仪器配置
仪器主机一台
电制冷半导体探测器
X光管（0-40KV）
高压电源
品牌计算机一台
激光打印机一台
真空泵一台
压片机一台
制样模具一套
稳压电源一台
测试软件一套标准包装
适用范围
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、CD、Cr）和卤素检测；
性能特点
采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
采用美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术，能量分辨率150eV；
40KV-钨靶微型X射线管；
采用2048道多道分析器，分析更高；
一体化设计，性能稳定，运行，；操作简单，测量时间短，同时配备PC机；
测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单；
技术指标
分析元素范围：Na-U
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
探测器能量分辨率150eV
检出限：CD/Cr/Hg/Br≤1ppm，Pb≤2ppm，Cl≤20PPm
校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据
测量范围：1－40KeV
高压：0kV-40kV
管流：0μA-100μA
的稳定电源：AC 220V&plun;1%，50Hz（采用国内的稳压电源1000VA）
检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）
圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm；
工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃
工作环境相对湿度：≤99%（不结露）
额定功率：50W
仪器重量：25Kg
仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm
仪器配置
仪器主机一台
电制冷半导体探测器
X光管（0-40KV）
高压电源
品牌计算机一台
激光打印机一台
真空泵一台
压片机一台
制样模具一套
稳压电源一台
测试软件一套标准包装
