激光三角漫反射位移传感器用于测厚有明显优点：
－小的测量光斑，是点光面积，如MTI公司LTC系列光斑面积约1mm，它比面积型非接触电容、电涡流传感器，对被测体面积几乎无要求，适合测量小面积尺寸厚度； －较远的测量范围起始间距。它比非接触电容、电涡流传感器起始间距大很多，如MTI公司激光位移传感器测量量程100mm，测量间距可以1000mm。这样传感器可以远离被测体，免受碰坏，及被测体热辐射影响； －有很大的测量范围，如MTI公司LTC激光位移传感器量程达2000mm，这是其它传感器很难做到的； －与被测体材料无关，即金属非金属体，非透明有漫反射条件表面测。 和其它传感器测厚一样，要实现精密测厚需要注意以下条件，否则再好的传感器也测不准： 1、用单激光位移传感器测厚 2、 双激光传感器测厚 在被测体上方和下方各安装一个激光位移传感器，被测体厚度D=C-（A+B）。其中，C是两个传感器之间距离，A是上面传感器到被测体之间距离，B是下面传感器到被测体之间距离。图中：R是指传感器量程起始间距，MR是指传感器量程。 在线厚度测量用这种方法优点是可消除被测体振动对测量结果的影响。但同时对传感器安装和性能有要求。 测量准确性的条件是：两个传感器发射光束须同轴，以及两个传感器扫描须同步（见本文附图）。同轴是靠安装实现，而同步要靠选择有同步端激光传感器。如真尚有ZLDS10X系列激光位移传感器都有同步端。 不同步将代来很大误差：如果被测体存在振动频率20HZ，振幅1mm，如果信号不同步延迟1ms，那么就会带来125µm误差。 安装两个激光同轴示意图： 安装使两个激光同轴，不但被测体同一位置上的厚度，同时降低了被测体倾斜带来的误差。以被测体运动方向不同轴为例，当不同轴1mm，被测体倾斜2°可带来35µm误差。
被测体放在测量平台上，测量出传感器到平台表面距离，然后再测出传感器到被测体表面间距，经计算后测出厚度。要求被测体与测量平台之间无气隙，被测体无翘起。这些严格要求只有在离线情况实现。
同步工作示意图：
MicrotrakII""激光位移量测设备（单探头NEW)
分辨率：0.1μm 取样频率：40KHz
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★分辨率视可选滤波器而定MicrotrakII单激光——通用、、操作简易的仪器。它不受表面物体材质、颜色及发射光源的影响，应用范围广，是解决工业各式的理想选择。
特性及优点：
MicrotrakII系列的激光传感器，需要用信号处理器就能独
立完成操作。这种激光传感器能用较小的成本解决所需的测量难
题，是高要求的原始设备制造商、生产及质量控制部门的理想测
试器件。能通过RS-485连接线和远程控制软件能很容易的设置参数：例如测量单元、响应频率以及采样时间的参数设定 规格: 激光型号 线性中点 量测范围 分辨率 光点大小 测量表面 LTC-025-02SA 25 mm &plun;1mm &plun;0.12 um 30 um 漫反射型 LTC-025-04SA 25 mm &plun;2mm &plun;0.25um 30 um 漫反射型 LTC-050-10SA 50 mm &plun;5mm &plun;1.25 um 25um 漫反射型 LTC-050-20SA 50 mm &plun;10mm &plun;2.5 um 25 um 漫反射型 LTC-120-20SA 120 mm &plun;10mm &plun;2.5 um 100 um 漫反射型 LTC-120-40SA 120 mm &plun;20mm &plun;5 um 100um 漫反射型 LTC-200-100SA 200 mm &plun;50mm &plun;9 um 100 um 漫反射型 LTC-300-200SA 300mm &plun;100mm &plun;20 um 130 um 漫反射型
●激光：ClII 和 ClIIIA,波长670nm,2--5mw
●线性度：+/-0.05%或更好
●取样频率：40kHz
●反应频率：20kHz
●滤波设定：20kHz，4kHz，1kHz，200Hz，25Hz，1Hz，0.1Hz
●模拟电压输出：0-10V
●模拟电流输出：4-20mA
●数字输出:RS-485
●波特率:230kb
●温度稳定性：0.05%满量程/摄氏度
●激光头：IP67
●控制器：IP40
●电缆线：标准2.7米，可选6米
●电源：20-30V,0.75A
应用范围：
●振动 ●厚度 ●翘曲度 ●线性度 ●位移 ●阶差高度 ●同轴度 ●填充高度
●平坦度 ●热膨胀和热收缩 ●表面轮廓 ●动态悬挂 ●尺寸量测
