平面平晶 平面平晶：是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶：用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度，例如，平面光学件、平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高的平面件。平面平晶：适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。 平面平晶的技术参数
| 产品名称 | 平面直径d（mm） | 工作面平面性（mm） |
| 平面平晶 | 30 | 0.03 |
| 平面平晶 | 45 | |
| 平面平晶 | 60 | |
| 平面平晶 | 80 | |
| 平面平晶 | 100 | 0.05 |
| 平面平晶 | 150 | |
| 平面平晶 | 200 | |
| 平面平晶 | 250 | |
| 平面平晶 | 300 | 0.08 |
