0-25mm/0.1um 0-50mm/0.1um 数显高度计/电子高度计[国内]

一、产品概述

中图公司研发生产的SJ200系列高度计是是针对众多工业应用领域及检测机构进行设计的大量程、高的测量设备。本仪器采用高光栅作为测量基准，遵循阿贝原则，按照机械稳定性和热稳定性的原则设计而成，因此具有测量高、性能稳定、重复性好等特点。

SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。

二、结构原理

本仪器包括高光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、的采样等。

SJ200系列高度计采用高光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的温度特性。

增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的小测量步距，从而一个信号周期内微小位置误差。

三、性能特点

u    测量高：光栅；

u    性好：经过10万次重复性实验；

u    检测速度快，快速检测、示值稳定；

u    校准方便；

u    采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力小；

u    应用广泛，自动检测设备、手动测量或定位设备-无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和的测量。

四、SJ206/SJ207/SJ208高度计

SJ206/SJ207/SJ208系列高度计，测量系统由测头、数显装置SJ102和陶瓷台架组成。

系统测量高，量程范围大，有25mm、50mm、100mm可选。

u    SJ206/SJ207/SJ208高度计技术参数：