昆山嘉瑞德电子有限公司
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经营模式：工厂
主营产品：muRata测试线和村田射频头;NI GPIB卡;康泰克GPIB卡;GPIB线;手机RF测试线;手机测试卡;muRata射频线;RF测试头;3G手机测试卡;WCDMA手机测试卡;高频测试探针;村田高频测试探针;广濑测试头;IPX连接器;IPX连接线;HRS连接器;HRS连接线;村田手机测试线;IPHONE ipad 周边配件;热压机钛压头
G手机测试卡,支持G/DCS/PCN, G测试卡是专门为G手机（ME）造制商用于生产目的而研制的。它具有质量，寿命长，遵从G标准的特点。
下面，从技术角度说明它的特性：
采用国际半导体厂商生产的芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合手机.
配以COS系统，遵从G对手机，SIM卡的各项规范的半导体硅衬，卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（G标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用
采用长寿命EEPROM，读写次数在10万次以上。（G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。）
芯片保护层，卡片，电子攻击。耐压6.5V以上卡片涂层，静电（D），水（48小时浸泡试验）卡体材料（ABS混合高温PVC），，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.
