Fluke Ti200热像仪|福禄克TI200|热成像仪TI200 技术特征：
Fluke Ti200是业内利用激光测距的高技术实现快速、精准对焦，在任何情况下都可以轻松捕获被测目标，从而呈现一贯图像
| 详细的技术指标 | |
| 温度 | |
| 温度测量范围（-10°C 以下未校准） | -20 °C 至 +650 °C |
| 温度测量 | ± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值） |
| 屏显发射率校正 | 是（根据数字和表格） |
| 屏显反射背景温度补偿 | 是 |
| 屏显传输校正 | 是 |
| 成像性能 | |
| 图像捕获频率 | 刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取决于型号） |
| 探测器类型 | 200 X 150 像素焦平面阵列，非致冷型微测辐射热计 |
| 热敏度 (NETD) | 30 °C 目标温度时，≤ 0.075 °C (75 mK) |
| 总像素 | 30,000 |
| 红外光谱带 | 7.5 μm 至 14 μm（长波） |
| 可视（可见光）照相机 | 工业性能，500 万像素 |
