介电常数介质损耗测试仪工作原理
本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率0.0033pF的线性可变电容器，配用Q表作为指示仪器，缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。
介电常数介质损耗测试仪特点：
◎ 本公司的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
介电常数介质损耗测试仪电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。
例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。
该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以测试装置的重复性和准确性。
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
介电常数介质损耗测试仪指标：
1. 平板电容器二片平行度不过0.02mm。
2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不过0.1mm。
3. 二个测微杆0.01mm分辨率。
4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求合工作特性要求。
介电常数介质损耗测试仪由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否则其工作性能就不能，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，
