介电常数介质损耗因数测试仪数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而了数据的度和测量的同一性，是人工读值和人工计算拟的。
附表一介质损耗因数测试仪系统主要性能参数一览表
BH916测试装置 GDAT高频Q表
平板电容片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz、
间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500
测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023
介电常数介质损耗因数测试仪标准配置：
Q表 一只
试验电 一只 （c类）
电感 一套（9只）
电源线 一条
说明书 一份
合格证 一份
保修卡 一份
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
介电常数介质损耗测试仪特点：
◎ 本公司的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
介电常数介质损耗测试仪装置：
2.3.1 平板电容器片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm，±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4
