GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
介电常数介质损耗测试仪特性
1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023；
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
c．标称误差
| A | C |
频率范围 | 25kHz～10MHz | 100kHz～10MHz |
固有误差 | ≤5％±满度值的2% | ≤5％±满度值的2% |
工作误差 | ≤7％±满度值的2% | ≤7％±满度值的2% |
频率范围 | 10MHz～60MHz | 10MHz～160MHz |
固有误差 | ≤6％±满度值的2% | ≤6％±满度值的2% |
工作误差 | ≤8％±满度值的2% | ≤8％±满度值的2% |
2．电感测量范围
A | C |
14.5nH～8.14H | 4.5nH～140mH |
3．电容测量
| A | C |
直接测量范围 | 1～460p | 1～205p |
主电容调节范围 | 40～500pF | 18～220pF |
准确度 | 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% | 150pF以下±1.5pF 150pF以上±1% |
注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
4．信号源频率覆盖范围
| A | C |
频率范围 | 10kHz～60MHz | 0.1～160MHz |
CH1 | 10～99.9999kHz | 0.1～0.999999MHz |
CH2 | 100～999.999kHz | 1～9.99999MHz |
CH3 | 1～9.99999MHz | 10～99.9999MHz |
CH4 | 10～60MHz | 100～160MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000
6．Q表正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。
介电常数介质损耗测试仪电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。
例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。
该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以测试装置的重复性和准确性。
介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。
缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。
同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。
介电常数介质损耗测试仪特点：
◎ 本公司的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
