XDLM PCB
CHERSCOPE®-X-RAY XDLM-PCB 200和210是一款专为印制线路板上镀层的厚度测量及分析而设计的入门级的耐用X射线荧光光谱仪。
典型的应用领域有：
? 测量印制线路板（至610 x 610 mm）上的微小结构及组件
? 测量电子及半导体工业中的功能性镀层
? XDLM-PCB 210：全自动测量，如在质量控制领域
? 测定电镀漕液中的成分浓度
微聚焦X射线管配合比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高测量。出色的准确性及长期的稳定性是菲希尔X射线仪器的共有特点。不需要经常校准仪器，因而能节省时间和精力。
由于采用了菲希尔的基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。
当需要测量大面积线路板及多层板时，XDLM-PCB 200可以配置加长型样品平台，增加样品放置空间。
