- 品牌/商标：instrumentsystems
- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 原产地：德国
DTS 320 NVIS - 0,01 fL下 NVIS 测量的标准仪器
DTS 320 NVIS 建立在带有制冷 PMT3 光电倍增器的扫描式高端分光辐射谱仪 Spectro 320 和成像光学探头 TOP 200 基础之上，专门用于按照 MIL-L-85762A 以及 MIL-STD-3009 规范测量显示器和仪表盘。
DTS 320 NVIS 以其完美的性能稳居军事航空工业和测试实验室标准测量系统的位置。它拥有极高的测量敏感度，即便 0,01 fL 的情况下也能测量 NVIS 的辐射亮度。此外，它还是能够测量玻璃仪表盘 LCD 显示器 NVIS-Black 值的分光辐射谱仪。
DTS 320 NVIS 高的扫描速度和信号敏感度使其可以在一分钟内完成 NVIS 辐射亮度 （NR-A, NR-B 和 NR-C）的超测量。DTS 320 NVIS 标准配置中的光电倍增器冷却设备（-5o C）使其也可以用于移动测量。此外，如有需要还可以选用带有更低信号噪声的外部冷却设备 （-10o C）。
DTS 320-202 NVIS 技术参数：
DTS320-202 NVIS | |
|---|---|
光谱范围 | 380 - 930 nm |
波长 | +/- 0.2 nm |
光谱分辨率 | 0,5 到 10 nm 可编程 |
辐射亮度灵敏度 | 10E-12 W/cm2 sr nm |
光亮度灵敏度 | 0,005 cd/m2 以及 0,0015 fL |
光亮度和色品坐标测量时间 | 5 Sek. @ 1 cd/m2 (0,3 fL) |
NVIS 辐射亮度测量时间 | 1 - 2 min |
*) DFI：Direkt-Fiber-Input, 直接光纤输入，使用配有截面变流器的光纤束 OFG-625。
