*显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）； *CIE颜色测定 X Y色度图，x，y，L,a,b饱和度，主波长等； *检测速度快 探测器，可在1秒内时间重现性高的测定； *消除背面反射光 无需进行背面反射处理即可快速准确地测定表面反射率
| 型号 | BCSP（II型） | BCSP（III型） |
| 检测范围 | 380~880nm | 380~1100nm |
| 波长分辨率 | 1nm | 1nm |
| 相对检测误差 | ﹤1% | ﹤1% |
| 测定方法 | 与标准物比较测定 | |
| 被测物再现性 | ±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) | ±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~1000nm) |
| 单次测量时间 | ﹤1s | |
| 0.3nm | ||
| 被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | |
| 被测物尺寸 | 直径>1mm厚度>1mm(使用10×对物镜时)厚度>0.5mm(使用20×对物镜时) | |
| 被测物测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) | |
| 设备重量 | 约30kg（光源外置） | |
| 设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |
| 使用环境 | 水平且无振动的场所温度：23±5℃ 湿度：60％以下、无结露 | |
| 操作系统 | Windows XP, Windows Vista，Win7 | |
| 软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定 | |
