- 产品品牌：
- 郑州汇科
- 产品型号：
- 集成电路测试仪ICT33C+ 可测模拟IC
1．工作原理：prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office"
ICT33c+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能是重要，根本，能说明问题的参数。
2．系统主要构成：
（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
（2） 程序存储器：128K EPROM。
（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。
（4） 显示器：8位液晶显示器。
（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。
（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
（7） 机箱：全塑结构机箱。
3．主要参数：
（1） 电源电压：AC220V±15%，50HZ。
（2） 整机功耗：15VA。
（3） 测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4） 编程电压：12.5V，21V。
（5） 测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
（6） 型号输入位数：3——6位。
（7） 适用温度：0——40℃。
（8） 测试规范：输入短路测试；输出短路测试；100%功能测试。
（9） 输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10） 输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11） 输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12） 输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
4.功能综述
（1） 器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。
（2） 器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
（3） 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
（4） 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
（5） 内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
（6） 微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
（7） ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
（8） ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。
5．适用范围
ICT33C+具有以下主要用途：
（1） 维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
（2） 破译被抹去型号集成电路的真实型号。
（3） 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
（4） 开发各类智能电子产品，调试程序。
（5） 检验新购器件的质量。
6．测试容量
ICT33C+可测器件包含以下各大系列：
（1） TTL74、54系列。
（2） TTL75、55系列。
（3） CMOS40、45、14系列。
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