- 产品品牌：
- 半导体分立器件测试系统；
- 产品型号：
- BC3193
BC3193 半导体分立器件测试系统 系统用途 BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试 系统特点 ◆ PC机为系统的主控机 ◆ 菜单式测试程序编辑软件操作简便 ◆ 预先连接测试自动识别NPN/PNP ◆ 0～±2000V程控高压源 ◆ 高达±1000A程控高流源 (外接高流台可扩充到±1000A) ◆ 测试漏流小分辨率达6.1pA ◆ 四线开尔文连接保证加载测量的准确 ◆ 通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家 计量标准对系统进行校验 ◆ Prober接口、Handler接口可选（16Bin） ◆ 可为用户提供丰富的测试适配器 测试对象 二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管： BVR、IR、VF、VZ、RZ 三极管： BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT 可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、 IH、IL、VGT、VON 场效应管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off) 达林顿矩阵：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO 单结晶体管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2 光敏二、三极管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE 光 耦（输出类型：二极管、三极管、可控硅、MOSFET）： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR （加时间测量选件Tr、Tf、Toff、Ton） 固态继电器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von 硬件基本配置 主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上； 计算机PCI接口板(CPUINT)一块；系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口)； 数据采集板(VM)一块； 40A/30V程控电流电压源(VIS)二块； ±2000V程控电压源(HVS)一块； 电流/电压转换板(IVC）一块； 电源控制板(PWC)一块； 测试台矩阵板(STATION)一块； 自检模板2个； 测试适配器4个（二极管、TO-92、TO-3、TO-220）