- 产品品牌：
- 谊邦电子
- 产品型号：
- YB580x
大功率IGBT全参数自动测试系统
我公司科研人员经过连续技术攻关, 在原有YB6500高端半导体分立器件自动测试系统基础上, 自行研发出国内首台igbt测试仪，圆满解决了功率IGBT等新型半导体器件的全参数测试难题,填补了国内在半导体自动测试领域的空白，该项产品综合技术指标达到国际水平。
目前我公司提供的该项新产品采用模块式功放结构, 主极电流400A/500A/1000A/1250A可选, 2500A/5000A选项可以根据用户需要定制。
该产品可测IGBT参数包括了I
CES, BV
CES, I
GESF, I
GESR, V
GETH, V
GEON, V
CESAT, I
CON,V
F, G
FS,r
CE等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试, 大电流指标保证0.5%以内重复测试, 达到目前国外进口同类产品水平。
绝缘栅晶体管、IGBT测试参数及
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电参数名称 |
电压范围 |
电流范围 |
分辨率 |
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ICES
IGESF
IGESR |
0.10V- 2000V
0.10V - 20V(80V)（2） |
100nA(100pA)（1）
- 50mA
100nA(100pA)（1）- 3A |
1nA(50pA)（1） |
1%+10nA+20pA/V
(1%+200pA+2pA/V)（1） |
|
BVCES |
0.1V-1000V- 1400V
- 1600V |
100μA - 200mA
-100mA
-50mA |
5mV |
1%＋100mV |
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VGETH |
0.10V- 20.0V(80V)（2） |
100nA- 3A |
5mV |
1%+10mV |
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VCESAT
ICON
VGEON
VF
GFS(混合参数) |
VCE: 0.10V- 5.00V
- 9.99V
VGE、VF:
0.10V - 9.99V |
IC: 10μA-1250A
- 1250A
IGE、IF:
100nA - 10A |
5mV |
V: 1%+10mV
IC,IF: 1%+100nA
IGE: 1%+5nA |
（1） 需要YB550选件
（2） 需要栅极80V选件
该产品可针对目前封装的多单元IGBT特征, 根据用户需要提供4/ 8/ 20单元扫描测试适配器, 从而实现多单元封装器件的性全参数测试.与进口专用测试系统相比, 该产品可同时对各种功率的其它10-18多类半导体分立器件进行全参数测试, 具有更高的使用效率。与国外同类产品相比, 该产品具有更高的性能价格比和国外厂家不能做到的优质售后服务。
主要特征简述：
★
YB半导体分立器件测试仪是我公司从国外引进的国产化项目。该
分立器件测试仪目前已通过国内两家计量站的综合检测认定。经过与国内其他
分立器件测试系统对比使用，
YB测试系统在系统硬件的可靠性、稳定性、功率范围、测试范围、系统测试、测试参数的一致性等多项指标已远远超过国内产品。
YB测试系统目前是国内高端的
半导体分立器件测试仪器。
★作为精密仪器引进项目，
YB半导体分立器件测试仪系统严格按照国军标产品之标准，全部选用优质可靠的元器件。系统严格按照军用整机检验标准进行测试检验，确保系统的稳定性和可靠性。
YB半导体分立器件测试仪所使用的各种
继电器，全部采用国外公司生产的水银继电器，从而大大提高了
谊邦系统的测试速度，提高了系统的使用寿命。
★服务周到是我公司的优势之一。选用
YB半导体测试系统，享受
YB电子服务，我们的服务可以在一小时内答复解决方案，到达用户现场当天解决系统出现的所有问题。
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YB分立器件测试仪在实际操作中，可真实达到电压2000V、电流50A的测试条件。在极限值条件下测试，系统同样保持高和良好的重复性、稳定性。此项指标远远于国内其他产品。
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本分立器件测试系统测试原理和方法符合国家相关规范和标准。
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大功率器件测试采用脉冲法测试，脉冲宽度为规定的300uS。
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YB半导体测试系统硬件设计先进，升级能力强。为用户今后做
测试系统升级提供了有力的技术保障。
YB元器件测试系统硬件支持电压升级到5000V，电流升级到1250A。
★系统采用先进的嵌入式计算机结构，可以实现脱机测试功能。提高了系统的可靠性和使用灵活性。
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YB分立器件测试系统和
YB半导体测试夹具全部采用多级开尔文技术，采用无电缆连接设计结构，保证测试结果准确可靠。各种
元器件测试夹具均由器件插座和插头采用开尔文技术连接装配，不仅确保长寿命工作，可靠性极高，无故障使用寿命在5X10
6次以上。使测试数据更加准确无误。
★
YB半导体测试系统具有被测器件引腿接触自动判断功能。遇到器件接触不良时系统自动停止对被测器件测试，可确保被测器件不受损坏。
★真正的动态跨导测试。（国内其他
元器件测试系统采用直流方法测动态跨导，测试结果与器件实际值偏差很大）。
★二极管极性自动判别测试功能，不需人工判别极性测试，方便操作。
★具有单参数测试延时编程功能，用户可根据不同器件要求选择延迟时间，增强参数测试稳定性。
★丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力，方便的用户信息文件、统计文件方式，可以给出批次测试失效数量、合格数量，按实测指标分类器件数量。测试结果可以给出excel等多种形式。
★96个程序步，99种分类。
★混合参数编程方式（参数测试编程不受器件类别限制），可以对同一器件选用不同类别器件的参数进行编程，大大的扩展系统测试能力，对被测器件进行测试和分析，软件使用方便灵活。自动/固定量程测试功能，选用自动量程时，系统根据实测范围自动调整以达到测试。内部设有可选择的电流型负载和阻型负载。
★阻型负载：机内设有不同阻值的电阻负载供选择。
★电流型负载：机内设有不同档位的恒流源负载供选择。
★用户可以按照参数要求，自己设定参数自动分档功能，以便把不同参数的器件自动加以区分、配对提高器件使用价值。
★
高速参数测试和存储功能，参数分析能力。平均每参数测试时间只有1毫秒。
★在线系统故障判断修复能力，便于用户应急处理排除故障。
★自检、自校准功能。系统提供自检测试程序和夹具。系统故障自动判别到器件级。自校准功能可将系统误差存入内置计算机，不需人工校准即可实现测试。
★错误信息提示和在线帮助，面板显示被测器件不合格参数和单步实测参数值。在线帮助是在线提示用户如何简便使用该测试系统。
★测试结果计算功能，系统可以将任意测试程序步的测试结果进行计算，形成新的测试结果，方便用户进行分析，解决、扩展特殊参数的测试可以将测试程序中任意步的测试结果进行计算，形成新的测试结果，方便用户对器件进行分析。
★
YB半导体测试系统单步测试功能，用于对单个参数进行测试，同时将测试结果值在前面板上显示，方便用户分析。
★
YB半导体测试系统测试结果分档功能：用户可以按照参数要求，设定参数自动分档功能，系统把不同参数的器件自动加以区分、配对，提高器件使用价值。
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YB半导体分立测试系统机械手、探针台、多终端、可选扫描、多路阵列扩展测试能力。
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YB元器件测试系统可进行实时运算，允许测试结果比较与数值计算。
★功率源选用国际久经验证的电源线路，结合航天电源设计经验，在此基础上形成具有自主产权的功率源发明技术。
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YB半导体测试系统设计综合美国、日本多种先进结构技术。
★承诺确保系统使用寿命可以达到十年以上，系统功能正常，参数指标符合出厂标准。
上述只列出该系统的部分常用特征。其它多种综合处理能力在使用中可以不断开发扩大。可根据用户测试使用的要求，方便地选通其他特征。
