- 产品品牌：
- ARCS
- 产品型号：
- KIC-E
产品用途：
快速检测各种复杂、精密零件的轮廓，表面尺寸，角度与位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制，并可用于产品开发、二维抄数等领域。
适用于如下之行业：
Ⓞ半导体如光罩、Wafer，系统晶片，互补式金属氧化半导体影像感测器。
Ⓞ封装元件如TSOP、SOP、QFP、BGA等。
ⓄPCB产品如IC板，模组电路板，软性电路板等。
ⓄTFT液晶萤幕如背光板、LCM、BUL等。
Ⓞ电子产品如测试座，多层陶瓷基版，感测器，电感、电容、电子元件等。
Ⓞ橡塑胶如O型环，相机组件，连接器等。
Ⓞ冲压产品如导线架、马达铁芯、精密金属板金、钟表零件、弹簧等。
Ⓞ零件如精密铸模，刀具，机械零件等。
Ⓞ光学通讯零组件，陶瓷套圈，光感测器等。
Ⓞ、航天航空，高等院校，科研机构等。
产品特点：
Ø德国的先进技术及严谨工艺，与台湾的精密制造技术的完美结合。
Ø精密传动轴高精密花岗岩底座、高强度、耐腐蚀、稳定性好。
Ø镜头具同轴、同焦距技术，量测过程中可连续变换倍率，影像可保持清晰。
Ø底光和表面光采用连续可调的LED冷光源，避免造成被测物体的热变形。
Ø精密光学尺，分辨率为0.001mm。
Ø搭配SI-102影像量测软件、界面友好，易学易用、操作简便。
Ø整机保修十二个月。
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产品编号 |
KIC-2010E |
KIC-3020E |
KIC-4530E |
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量测行程(X、Y、Z) |
200x100x200mm |
300x200x200mm |
450x300x200mm |
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载物台尺寸 |
355x255mm |
505x355mm |
705x505mm |
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仪器外型尺寸(长x宽x高) |
585x600x960mm |
790x780x990mm |
1070x1090x970mm |
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净重 |
150kg |
215kg |
385kg |
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工作台承重 |
20kg | ||
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操作方式 |
手动(可切换快速移动) | ||
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放大倍率 |
光学放大:0.7~4.5X 影像放大:17.5X~112.5X | ||
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量测软件 |
SI-102简易型量测软件 | ||
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量测分辨率 |
1um | ||
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量测 |
(3+L/200)um | ||
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重复 |
2um | ||
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使用环境 |
温度:20±5℃ | ||
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电脑配备 |
高性能主机+19寸萤幕 | ||
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电源要求 |
1～，AC110V~230V ,50/60HZ | ||
