- 产品型号：
- LIRI-2006颗粒图像分析仪
LIRI-2006型显微图像分析系统是我公司研制的一种图像法颗粒分析仪器。它是传统的显微镜法与现代的图像处理技术相结合的产物。它的基本工作流程是通过数字摄象机抓拍颗粒在显微镜下的图像并传输到计算机中，通过的颗粒图像分析软件对图像进行处理与分析， 经显示器和打印机显示和输出分析结果。本仪器具有直观、准确、测试范围宽等特点，不仅可以直接观察到颗粒形貌，还可以计算出每个颗粒粒径和圆形度以及粒度分布和圆形度分布，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。
一、基本参数
测试范围：1-3000微米；
显微镜：中外合资光学显微镜（可选配其他种类显微镜，如进口显微镜、金相显微镜等）；
数字摄像机：192万像素；
光学放大倍数：1600倍；
分辨率：0.1微米/像素；
重复性误差：<3%（不包含样品制备因素造成的误差）。
二、仪器组成与图像分析原理
仪器组成：
LIRI-2006型显微图像分析系统包括粒度分析软件、数字摄像机、显微镜、电脑、打印机等组成部分。
分析原理：
通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素量的统计，计算出每个颗粒的等效面积圆和等球体积，从而得到颗粒的等效圆面积直径和等球体积直径以及圆形度等参数，再对所有的颗粒进行分级统计，从而得到粒度分布、圆形度分布等信息。
三、软件功能
图像处理功能：
对图像进行灰度转换，二值化，分割，删除，剪切，粘贴，缩放，填充等一系列处理，得到颗粒清晰的黑白二值化图像。
数据处理功能：
通过对图像进行处理，测量软件自动统计出颗粒个数，然后计算每个颗粒所包含的像素数，得出颗粒的面积、等效直径、等效周长、实际周长、圆形度等参数。通过粒度分级，得到用户需要的粒度分布表和分布图以及d10、d50、d90等典型参数，并可根据需要选择个数分布或体积分布。
软件输出项目：
包括原始数据（样品信息和测试信息）；分析数据（粒度分布表/粒度分布图）；图形（频率分布直方图和累计分布曲线）；典型结果（中位径，平均径，圆形度等）。
输出功能：
可以打印原始图像和多种测试，包括粒度，图像，圆形度以及粒度和典型图像的综合。
四、适用领域
研磨材料：白刚玉、金刚石、碳化硅、碳化硼、氧化铈等；
电池材料：石墨、钴酸锂等；
其他：可用来观察各种非金属粉、金属粉以及其他粉体；
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