- 产品品牌：
- CEWEI
- 产品型号：
- 6JA
- 类型：
- 光学显微镜
一 6JA 干涉显微镜用途:
具有相同频率、相同的振动方向和恒定相位差的光线，在空间叠加会发生干涉现象，这就是光波的干涉原理。利用光波的干涉原理和显微镜非接触检测特点对试样表面上高度极微小差别进行测量。这类显微镜依据所测光洁度▽3-▽9/0.8-80um为光切法显微镜，▽10-▽14/1-0.03um为干涉显微镜。适用于测量零件表面刻线，镀层深度等，配以特殊的附件还能测量颗粒加工纹路表面，低反射率的工件表面，对大型工件作表面测量时，可将仪器倒置在工件上。
二 6JA 干涉显微镜主要技术参数:
1、测微目镜放大倍数：12.5X
2、仪器放大倍数：目视：500X, 低反射率：≈4%
3、测微鼓分划值： 0.01mm
4、测量表面光洁度范围：▽10-▽14(相当不平度0.1-0.03um) , 半宽度：Δλ≈10nm
5、工作物镜的数值孔径：0.65, 工作台升程：5mm
6、工作距离：0.5mm, X、Y方向移动范围：≈10mm
7、仪器的视场：目视：φ0.25mm
8、绿色干涉滤色片波长：λ≈530nm
9、旋转运动范围：360°,仪器标准镜高反射率：≈60%
10、可调变压器输入电压 220V，输出电压:4V-6V
