- 产品品牌：
- 环宇
- 产品型号：
- TX500
- 测量范围：
- 0~50um
TX500型X射线镀层测厚仪
应用范围
电镀、真空镀、化学镀、纳米喷镀
电子、电器、五金、线材、汽车、珠宝首饰等行业的金属镀层、无机镀膜X射线镀层测厚仪分析
性能指标
可测元素： 硫(S)－铀(U)
可测镀层： 多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
： 可达0.005um
厚度相对误差： 单层5%，多层5～10%
厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
含量分析范围： 0.0002～100%
含量检出限： 2ppm
含量相对误差： 5～10%
小测量直径： 0.1mm
分析时间： 30～200S
技术参数
探测器： 进口半导体探测器，分辨率达139eV
X光管： 钨（W）靶，电压50kV，电流1.5mA
使用寿命长达5万小时
高压电源： 精密X射线专用电源，输出电压50kV
稳定度每8小时小于0.05%
滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
准直器： 采用新的高科技X射线聚焦晶体，小分析面积至0.1*0.1mm^2
对焦系统： 激光对焦
样品台： 高步进电机驱动，XY轴二维移动，步长至0.05mm
样品腔： 大气
样品观察： 高清晰彩色CCD射线头
X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制），
低于GB16355-1996防辐射标准
输入电压： AC 220V/50HZ
功耗： 300W
样品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量： 45Kg
功能特点
采用进口的新型探测器，对超低含量的元素都能探测；
自动安全的高压防护电路设计；
的光路系统，增大X射线强度，减少散射背景；
高步进电机移动样品台，实现um级的移动；
先进的激光定位系统，定位细小局部；
紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护；
对分析样品的状态、形状、大小、厚度自动进行校正，减少因制样不足而带来的误差。
