名称：饱和加速寿命试验机 饱和加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化 特点：
具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。
试验过程自动运转至完成结束，使用简便。
温度控制：LED数字型温度控制器可作试验温度之设定、控制及显示。
计时器：LED数字型计时器，当锅内温度到达後才开始计时以确保试验完全。
精准的压力／温度表随时显示锅内压力与相对温度。
运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到蒸气品质。
一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污。 安全装置：
锅内安全装置：锅门若未关紧则机器无法启动。
安全阀：当锅内压力超过工作值自动排气泄压。
双重过热保护装置：当锅内温度过高时，机器呜叫警
报并自动切断加热电源。
门盖保护：ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。 技术规格：
| 型 号 | PCT -30 | PCT -45 | PCT -50 | PCT - 60 |
| 内部尺寸(W×H×D)mm | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ650×600 |
| 外箱尺寸(W×H×D)mm | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
| 使用温度 | 121℃；132℃；(143℃特殊选用) | |||
| 使用湿度 | 100％RH饱和蒸气湿度 | |||
| 使用蒸气压力(压力) | 1个环境大气压 +0.0Kg／cm2 - 2.0Kg／cm2 ；(3.0Kg／cm2属于特殊规格) | |||
| 循环方式 | 水蒸气自然对流循环 | |||
| 安全保护装置 | 缺水保护，超压保护、 (具有自动／手动补水功能，自动泻压功能) | |||
| 配 件 | 不銹钢隔板两层 | |||
| 电 源 | AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz | |||
