CHERSCOPE X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于测量细小部件上的镀层厚度和成分分析。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
特点:用途广泛的镀层厚度测量仪
通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.
配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点
比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率
从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。
底部C型开槽的大容量测量舱
典型应用领域:测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
电子行业中接插件和触点上的镀层
装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
电镀镀层，如大规模生产件（螺栓和螺母）上的腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
珠宝和钟表工业
测量电镀液中金属成分含量
XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。本款仪器适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
