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供应苏州日本表面粗糙度仪维修/深圳
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供应苏州日本表面粗糙度仪维修/深圳

产品价格:
电议
产品型号:
全系列
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
深圳天道仪器有限公司
所属地区:
发布时间:
2013/11/8 10:39:24

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赵文龙先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

深圳天道仪器有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

主营产品:超声波探伤仪;影像仪;光谱仪;磁粉探伤仪;声发射系统;超声波测厚仪;涂层测厚仪;检测服务;计量服务;维修服务;KK产品;二手仪器;仪器回收;仪器租赁;无损检测配件

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Formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)SV-C3100/SV-C4100

525系列—表面粗糙度/轮廓测量仪

特点

大幅的驱动速度(X轴:80mm/s,Z2轴立柱:20mm/s)进一步减少了总的测量时间。

为了更长时间地保持直线度,三丰公司采用了老化且的坚固的陶瓷导轨;

驱动器(X轴)和立柱(Z2轴)均配备了高线形编码器(其中Z2轴上为ABS型)。因此,在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复得以。


表面粗糙度测量

直线度:&plun;(0.05+0.001L)μm*于需要高测量的工件。

*S4型、H4型、W4型;L为驱动长度(mm)

合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的国际标准。

标准配置:高测头(0.75mN/4mN测力),分辨率高至0.0001μm。


自动测量

在与CNC机型配套使用的众多外设选件的支持下,可实现自动测量。


轮廓驱动测量

X轴:&plun;(0.8+0.01L)μm*Z1轴:&plun;(0.8+I0.5HI/25)μm*于需要高测量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型;L为驱动长度,H为测量高度(mm)

SV-C4100系列的轮廓驱动器配备了激光全息测微计测头,Z1轴宽/窄范围均能高的和分辨率。


基本技术参数:

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花岗岩

重量

 主机:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

 控制器:14kg

 遥控箱:0.9kg

电源:100–240VAC&plun;10%,50/60Hz

能耗:400W(主机)


轮廓测量技术参数:

X轴

 测量范围:100mm或200mm

 分辨率:0.05μm

 检测方法:反射型线性编码器

 驱动速度:80mm/s、外加手动

 测量速度:0.02-5mm/s

 移动方向:向前/向后

 直线度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X轴为水平方向上

 直线位移:&plun;(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

 (20°C时)&plun;(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

&plun;(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

&plun;(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L为驱动长度(mm)

 倾角范围:&plun;45°

Z2轴(立柱)

 垂直移动:300mm或500mm

 分辨率:1μm

 检测方法:ABSOLUTE线性编码器

 驱动速度:0-20mm/s、外加手动

Z1轴(检测器)

 测量范围:&plun;25mm

 分辨率:0.2μm(SV-C3100),

 0.05μm(SV-C4100)

 检测方法:线性编码器(SV-C3100),

 激光全息测微计(SV-C4100)

 直线位移:&plun;(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)

(20°C时)&plun;(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)

*H:基于水平位置的测量高度(mm)

 测针上/下运作:弧形移动

 测针方向:向上/向下

 测力:30mN

 跟踪角度:向上:77°,向下:87°

(使用配置的标准测头,依表面粗

糙度而定)

测针针尖半径:25μm、硬质合金


表面粗糙度测量的技术参数:

X1轴

 测量范围:100mm或200mm

 分辨率:0.05μm

 检测方法:线性编码器

 驱动速度:80mm/s

 移动方向:向后

 直线度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)

0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)

Z2轴(立柱)

 垂直移动:300mm或500mm

 分辨率:1μm

 检测方法:ABSOLUTE线性编码器

 驱动速度:0-20mm/s、外加手动

检测器

 范围/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,

8μm/0.0001μm

(2400μm使用测头选件)

 检测方法:无轨/有轨测量

 测力:4mN或0.75mN(低测力型)

 测针针尖:金刚石、90º/5μmR

(60º/2μmR:低测力型)

 导头曲率半径:40mm

 检测方法:差动电感式


软件选件

DUALTRACEPAK

测量装置可自动运行,安装了表面粗糙度驱动装置后,表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自动启动。同样,安装了轮廓驱动装置后,形状分析程序FORMPAK-1000也自动启动。即使Formtracer已关闭,离线分析所需程序仍可从屏幕菜单中选出并运行。


ForMTRACEPAK

使用该软件可以控制马达驱动的Y轴工作台和旋转台选件,从而实现自动测量。使用该软件还可以进行轮廓评估,这项评估包括对级差,角度,深度,面积和其他基于表面粗糙度数据的特性进行分析。另外,还可以通过设置打印格式建立原始检测证书,以适应不同的需求。

联系方式

深圳天道仪器有限公司

联系人:
赵文龙先生
手机:
18038033155
传真:
86 0755 82598848
类型:
工厂
地址:
中国 广东 深圳市宝安区 沙井民主大道18号蚝三民主丰泽园6栋6楼

服务热线

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