| 一、用途及特点 107JII 改型数显测量工具显微镜采用透、反射的方式对工件作二维长度和角度的精密测量。适用于几何形状复杂的细小件、录象磁头、大规模集成电路掩模图形以及其它的精密件的测定。 | |
算机进行数据处理等测量。该仪器兼有目视测量和日本三丰光栅数显读数装置测量 , 是一种实用、多功能、高的小型精密
测量仪器。广泛适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。
二、规格
| 1、测量范围 : | 2、读数分格值 : |
| X- 轴移动测量范围 50 毫米 | 测微鼓 0.005 毫米； |
| Y- 轴移动测量范围 50 毫米 | 光栅数显 0.001 毫米（选购件） |
| 园工作台旋转范围 0 — 3600 | 园工作台刻度盘游标读数示值5 ′ |
| 3、测量 : | 4、镜筒调节范围 : |
| 测微鼓 5 微米； | 测量台面与物镜之间距离 80 毫米 |
| 光栅数显 50 毫米 内5微米(μm)； | 粗动调节范围：0-80毫米 |
| 任意 25 毫米 内 3 微米（μm ） | 微动调节范围：0-1.5毫米 |
①投影系统
物 镜 | 投 影 物 镜 | 投影 | 工作 | 视场 | 投影 | ||
放大倍数 | 焦距 | 放大倍数 | 焦距 | ||||
2.5x/0.07 | 36.34 | 10x | 32.42 | 25x | 15.7 | 5.6 | Φ 140 |
| 4x/0.1 | 28.8 | 40x | 13 | 3.2 | |||
10x/0.25 | 15.4 | 100x | 11.6 | 1.4 |
物 镜 | 目 镜 | 显微镜总 放大倍数 | 工作 | 视场 | 40倍 物镜 | ||
放大倍数 | 焦距 | 放大倍数 | 焦距 | ||||
2.5x/0.07 | 36.34 | 10x | 25.00 | 25x | 15.7 | 7.2 | 选购件 |
4x/0.1 | 28.8 | 40x | 13 | 3.2 | |||
10x/0.25 | 15.4 | 100x | 11.6 | 1.8 |
①照明 : 12V/20W
②垂直照明 : 12V/10W
③电源 : AC220 &plun; 22V 50/60Hz
三、仪器成套性 ( 标配 )
1、主机 /1 套
2、10 倍目镜 ( 含 ” 米 ” 字线 )/1 只
3、2.5 倍、 4 倍、 10 倍平场消色差物镜 / 各 1 只
4、日本三丰光栅数显手轮 /2 只
5、玻璃工作台板 /1 块
6、弹性工作夹 /4 组
7、 电源线 /1 根
四、选购件：
1、 光电转换（ CCD ）装置
2、40 倍物镜 /1 只
3、垂直照明 /1 套
4、图像捕捉卡
5、Z 方向测高装置
6、配套 CAD 测量软件
