CH系列三槽蓄热式冷热冲击试验机
一、说明：
蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2或LCO2）辅助降温，待测物静止测试方式是当前电子部品，国工业，航空工业测试用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材测试费用。操作快捷、高信赖，是本公司经多年潜心、倾力研究，开发试验机，提供您长期的测试工具。
二、产品特点：
此方式为试验物体静止，试验物体体积相对较大，重量较重。但温度转换时间相对较长。
试验时高温槽及低温槽已有相应试验温度。三槽式则只有一个试验槽，试验时有一个排气及将高温或低温气体抽入试验槽的过程。
参考标准：
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；
2、GB/T2423.2-2001高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
4. 国军标G150.3-86；
5. 国军标G150.4-86；
6. 国军标G150.5-86；
7、G150.5-86温度冲击试验；
8、G360.7-87温度冲击试验；
9、G367.2-87 405温度冲击试验。
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 ,
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
13、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
14、GB/T 2423.22-2002温度变化
二、规格参数：
型号 | 内尺寸cm H×W×D | 外尺寸cm H×W×D | |
CH | 35×40×35 | 140×125×132 | |
CH 49B | 35×40×35 | 140×125×132 | |
CH 49D | 35×40×35 | 140×125×132 | |
CH | 40×50×40 | 150×135×147 | |
CH 80B | 40×50×40 | 150×135×147 | |
CH 80D | 40×50×40 | 150×135×147 | |
CH | 50×60×50 | 160×155×192 | |
CH 150B | 50×60×50 | 160×155×192 | |
CH 150D | 50×60×50 | 160×155×192 | |
CH | 60×70×60 | 170×165×217 | |
CH 252B | 60×70×60 | 170×165×217 | |
CH 252D | 60×70×60 | 170×165×217 | |
CH | 80×80×75 | 225×202×215 | |
CH 480B | 80×80×75 | 225×202×215 | |
CH 480D | 80×80×75 | 225×202×215 | |
注：我公司另备有详细设备资料，欢迎索取。
