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X射线光电子能谱仪
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X射线光电子能谱仪

产品价格:
电议
产品型号:
AXIS-ULTRA DLD
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
上海仁特检测仪器有限公司
所属地区:
上海市
发布时间:
2012/8/17 9:11:33

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张永隆先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

上海仁特检测仪器有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

所在地:上海市

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  • 品牌/商标:岛津
  • 企业类型:制造商
  • 新旧程度:全新
  • 原产地:英国

AXIS-ULTRA DLDX射线光电子能谱仪由岛津制作所的全资子公司--英国KRATOS公司生产,是实时成像XPS的产品,空间分辨率小于3μm

仪器特点:

1. 能够与多种测定技术集成

AXIS-ULTRA DLD型标准配备了具有多个国际标准窗口的样品处理室,作为样品的前处理腔,功能强大且扩展性强。能够对应样品加热制冷及具有反应功能的样品反应池,多样品停放器等许多选购件。样品分析室可以增加UPSFE-AESISS等分析方法,可以组合成复合分析装置。

2. 延迟线探测器(DLD)系统

采用了新研发的延迟线探测器。既可以生成谱图又可以生成图像。各测定模式均可以提供正确的脉冲计数。不仅可以在描谱仪模式下,通过128个检测通道提供高灵敏度的测定,还可以不通过分析器的能量扫描,利用快速非扫描的快照谱仪模式瞬间测定窄扫描谱。成像模式能够提供256×256像素、空间分辨率小于3μm的高分辨率图像。

3. 平行成像和微区谱图

采用平均半径达165mm的大型静电半球分析器与成像专用的球镜分析器(Kratos)组合的合成分析器。在进行化学状态分析、深度方向分析等的谱仪分析时,通过大型静电半球分析器能够提供高能量分辨率、高灵敏度的测定。多点微区测定时利用输入透镜内的光电子偏转系统,能够实现准确的点分析。利用球镜分析器进行平行成像。光电子成像的空间分辨率小于3μm,能够在谱仪测定的同时,极短时间内得到高分辨率图像。

联系方式

上海仁特检测仪器有限公司

联系人:
张永隆先生
手机:
18616278192
传真:
021-61910648
所在地:
上海市
类型:
工厂
地址:
上海市北京东路666号科技京城A区502

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