矿石分析仪

矿石分析仪的详细信息

手持式X荧光光谱仪-测量Al\Mg\Si 样本： 型号：S1 TURBOSD 　　　　　　　　　　　　　　　轻元素测量S1 TURBOSD是世界台配置了XFlash®硅漂移探测器(SDD)的手持X射线荧光光谱仪，检测器能量分辨率高达140eV，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下，无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si，镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。 优点 无损、定量分析 快速、便携、可靠 能够分析S、P、Al, Mg, Si 可编辑用户数据库 测量元素范围可低至Mg(12) 微软实时系统(MS CE)软件提供图谱分析 高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素 PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的元素测量。 NASA/Bruker共有-无真空－无氦气消耗，可靠 功能模块 定量分析牌号识别混料识别合格与否判定图谱显示 应用领域 石油化工航空航天钢铁电站电厂 锅炉压力容器机械制造与加工金属回收与分类贵金属矿石/土壤/玩具/RoHS 技术规格 重量 1.5kg 尺寸 30cm(L)x10cm(W)x28cm(H) 激发源 X射线管，Ag靶，40kV 检测器 XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps　 操作系统 HP掌上电脑：Windows Mobile5.0Bruker 专用软件 冷却系统 Peltier 电子冷却系统 电源 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时 工作条件 温度范围：-20℃～+55℃；湿度范围：0～95% 电池充电器 交流充电器：110/220V，50/60Hz 计算机/显示器 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏 测量模式 牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定 数据传输 USB，无线蓝牙，SD卡 数据存储 主机：512MB存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据 安全 密码保护，设有多级安全锁 运输箱 减震、抗压、防水、密封仪器箱 支持语言 包括中、英文在内的12种语言(用户自选) 质保期获得证书 整机2年CE、TUV、ISO9001，IECEE