主要特点和优点
主要性能指标
? 6.5 位分辨率
? 高达0.0024% 的基本VDC 准确度 (1 年)
? 100 mV - 1000 V 电压量程，高达100 nV 分辨率
? 100 μA - 10 A 电流量程，高达100 pA 分辨率
? 10Ω - 1 GΩ 电阻量程，高达10 μΩ 分辨率
? CAT I 1000 V，CAT II 600 V
提供的功能和特点
? 电压、电阻和电流测量
? 二极管和通断测试
? 频率和周期测量
? 温度和电容测量(DMM4050)
? 2 × 4 欧姆4 线测量技术
? TrendPlotTM 无纸化数据记录器模式
? 测量统计
? 直方图模式
连接能力
? 前面和后面2 × 4 个测量输入
? 前面板USB 主机端口，轻松存储测量数据
? 后面板RS-232、LAN 和GPIB，快速连接PC
? 包括USB 到RS-232 接口适配器电缆
? 包括National Instrument 的LabVIEW SignalExpressTMTE限定版，用来连通其它台式设备
多功能精密测量工具
随着嵌入式系统中的电路日益完善、需要的容限日益紧张，您 必须以非常高的准确度测量不同的参数，验证设计。泰克 DMM4050 和DMM4040 6.5 位台式万用表把多种不同的功能 和分析能力融合到一台仪器中，并提供了杰出的准确度和性能。
泰克DMM4050 和DMM4040 万用表的基本VDC 准确度高达 0.0024%，分辨率100 pA 和10 μΩ，可以完成典型的万用表 测量，保证为当前苛刻的设计提供所需的性能。您还可以使用 DMM4050/4040 测量频率和周期，执行通断测试和二极管测 试。如果您需要更高的灵活性，DMM4050 还提供了温度测量 功能和电容测量功能。您可以用一台多功能仪器代替温度计、 电容表、计数器、通断测试仪和传统DMM，节约工作台空间 和成本。
使用图形显示模式分析被测设备
通过DMM4050/4040 独特的双显示器，您可以使用一组测试 表笔，测量同一信号的两个不同参数。为揭示漂移、间歇性瞬态信号和稳定性等信号质量问题，您可以使用DMM4050/4040 的图形显示模式，作为实时趋势图或直方图查看数据，也可以使用测量统计功能，跟踪信号参数怎样随时间变化。
TrendPlot? 无纸化记录器模式
TrendPlot 显示画面
根据测试要求，您的信号参数可能会在不同时间变化。通过在 几分钟、几小时或几天内进行多项测量，您可以量化这些变化。 有了TrendPlotTM，您可以绘制测得值在测量期间的趋势图，从 短时间跨度直到延长的时间周期。TrendPlot 可以用于DC 电 压、DC 电流、频率、电阻和温度等指标。AC 电压和电流可以 绘制为RMS 指标图。
测量统计
通过集成统计处理功能，您只需按一个按钮，就可以计算指标 的平均值和标准偏差，追踪测得的小值和值。可以统计 DC 电压、AC 电压、以dB 表示的AC 电压、DC 电流、AC 电流、电阻、电容、频率、周期和温度指标。
操作直观
专用前面板按钮可以快速进入常用的功能和参数，缩短仪器设置时间。您不必再搜索软件菜单，查找所需的功能。
轻松存储数据、连接PC
前面板USB端口可以轻松把测量数据和仪器设置存储到存储设 备上，您可以使用后面板上的LAN、RS-232或GPIB端口，连接PC。DMM4050/4040 标配一条USB到RS-232 接口适配器 电缆，可以轻松连接PC 的USB 端口。
简单准确的4 线测量
2×4欧姆功能已获的分离端子插座允许只使用两条引线、 而不是四条引线，执行4线测量。泰克提供了专用测试线附件，可以建立连接。您可以获得杰出的分辨率和准确度，而且使用 一对引线非常方便。
连通工作台，实现智能调试
Signal Express 从泰克DMM4050 和DPO3052 中采集数据
使用Signal Express 把DMM4050 数据导入到Excel 中通过专用的泰克版National Instrument LabVIEW Signal ExpressTM 软件，您可以轻松捕获、保存和分析万用表的测量 结果。每台DMM4050 和DMM4040 万用表都提供限定版 SignalExpress，可以完成基本仪器控制、数据记录和分析工作。选配的版软件则提供了200 多种内置功能，可以进一 步实现信号处理、分析、扫描、极限测试和用户自定义步进功能。
SignalExpress支持多种泰克仪器，可以连接整个测试台，然后可以从一个直观的软件界面中，访问每台仪器标配的多功能工具。您可以自动完成要求多台仪器完成的复杂测量，在更长的时间内记录数据，对来自多台仪器的数据实现时间相关，简 便地捕获和分析测量结果，这一切都从PC 上完成。只有泰克提供了由多台智能仪器组成的连通测试台，简化和加快了复杂设计的调试工作。
