仪器简介：
技术参数：
该款仪器采用新科技分析X光荧光光谱，对贵金属成分进行无损快速分析。该
仪器采用半导体探测器，其分辨率远远优于正比计数探测器，能够准确无误地分
析出黄金料中含铱、锇、钌等元素。 GY-MARS贵金属分析仪采用美国生产的硅探
测器XR-100CR。该款半导体探测器，被NASA（美国国家航空航天局）所选用作为
“勇气”及“机遇”号火星车的探测器。GY-MARS比一般采用半导体探测器的分
析仪，在连续工作时间、对环境要求等方面有明显的优势。投入市场以来，受到
广大新老客户的信赖。
技术参数：
仪器性能指标
1．度：0.1‰—1‰
2．测量时间：100秒—300秒
3．测量范围：金、铂（1%—100%）其他（10%—99.99%）
4．长时间工作状态稳定 工作环境温度（5—28℃）工作环境湿度（20—80%RH）
5．26元素全范围同时分析
6．电源：110V/220V
7．有分析、显示、打印等功能
8．机电一体化