可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μm。
自动测量功能:编程测量,自定测量修正,测量功能。
底材修正:已知样品修正。
定性分析功能:光谱表示,光谱比较。
定量分析功能:合金成份,分析数据。
x-ray膜厚测量仪作为一种在线测量厚度的精密仪器,在电镀工艺生产中占有重要的,直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两,产生不同能级的x射线穿过被测物,比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。