法向发射率测量装置的详细信息
产品介绍
MJLD型法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳法向发射率。配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天科技企业和航天研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内，填补国内测量材料太阳法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。
主要用途
测量材料表面的法向发射特性。技术指标?
- 测量范围：——(mm)
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MJLD型法向发射率测量装置产品介绍
MJLD型法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳法向发射率。配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天科技企业和航天研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内，填补国内测量材料太阳法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。
主要用途
测量材料表面的法向发射特性。技术指标?
法向发射率
◆测量范围：0.0 5～0.9 9
◆工作温度范围：室温～100℃
◆测量不确定度：当εn＞0.7 为±1.5％；当εn＜0.2 为±5％；其余为2％
◆探测器：平面热电堆
◆峰值波长：8.4～11μm