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紫外可见分光光度计UV757CRT产品特点：
自动八联比色池进样系统，方便您的操作 关键元件采用进口元件，保证的测量性能 全新独特的光学性能设计，优质的光学器件，保证较低的杂散光和出色的稳定性 基于Windows平台开发的强大软件，界面友好，功能强大，方便您的存储输出，方便办公，节省费用． 钨灯氘灯选用世界品牌，原装进口，保证光源的长期稳定可靠。 产品可以以主机和连接计算机两种方式分别使用，通过连接计算机产品可以进行扫描功能，并使产品功能大大提高。
紫外可见分光光度计UV757CRT性能指标： 显示：主机2*20字LCD显示 波长范围：190nm～1100nm 光源：DD2.5A氘灯，钨卤素灯12V20W 接收元件：光电池(进口) 波长准确度：±0.8nm 波长重复性：≤0.2nm 光谱带宽：3nm 杂光：≤0.15%T(220nm和360nm处) 透射比显示范围：0.0%T～200.0%T 吸光度显示范围：-0.301～4.000A 浓度直读范围：0000～9999 透射比准确度：±0.5％T(以NBS930D测试) 透射比重复性：≤0.2％T 噪声：100%噪声≤0.5%T, 0% 噪声≤0.2%T 漂移：≤0.004A/30min 基线直线性：±0.004A 电源：AC220V±22V,50Hz±1Hz 外形尺寸：520mm*410mm*200mm 净重：18kg
紫外可见分光光度计UV757CRT技术特点： 能在紫外、可见光谱区域对样品物质做定性定量的分析。 快速调整(整时间小于3S)。 采用微机测量系统，T-A转换，自动调整"0"和调整"100",具有GOTOλ,时间扫描，自动八联样品架，自动扣除
比色皿误差，浓度多点标定，斜率和载距设置等功能，具有RS-232 接口和并行打印口(印机专用，另行选项配)。 联机功能：通过RS-232串行接口，可利用上层软件做全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程(1次，2次，3次 ),多波长测试，并大大扩展测试功能(除主机功能外)提供数据向Excel 传送方式，便于用户的后期处理。 基于Windows开发的UVCONTROL控制软件，可对主机进行全面控制。包括数据采集(单点测量，光谱扫描定量测定，时间扫描)各种数据处理。 标准化、峰谷检测、面积计算。
图谱的放大、缩小、平滑、导树、四则运算 、1～4 次导树， T～A转换单波长、多波长定量测定。
K系数法、一点工作曲线法，可进行次函数拟合定量分析中异常点剔除。
扫描图谱、工作曲线和测量结果可海量存储，方便您的办公。
测试可以以标准文件或者Excel输出。
自动八联比色池进样系统，方便您的操作 关键元件采用进口元件，保证的测量性能 全新独特的光学性能设计，优质的光学器件，保证较低的杂散光和出色的稳定性 基于Windows平台开发的强大软件，界面友好，功能强大，方便您的存储输出，方便办公，节省费用． 钨灯氘灯选用世界品牌，原装进口，保证光源的长期稳定可靠。 产品可以以主机和连接计算机两种方式分别使用，通过连接计算机产品可以进行扫描功能，并使产品功能大大提高。
紫外可见分光光度计UV757CRT性能指标： 显示：主机2*20字LCD显示 波长范围：190nm～1100nm 光源：DD2.5A氘灯，钨卤素灯12V20W 接收元件：光电池(进口) 波长准确度：±0.8nm 波长重复性：≤0.2nm 光谱带宽：3nm 杂光：≤0.15%T(220nm和360nm处) 透射比显示范围：0.0%T～200.0%T 吸光度显示范围：-0.301～4.000A 浓度直读范围：0000～9999 透射比准确度：±0.5％T(以NBS930D测试) 透射比重复性：≤0.2％T 噪声：100%噪声≤0.5%T, 0% 噪声≤0.2%T 漂移：≤0.004A/30min 基线直线性：±0.004A 电源：AC220V±22V,50Hz±1Hz 外形尺寸：520mm*410mm*200mm 净重：18kg
紫外可见分光光度计UV757CRT技术特点： 能在紫外、可见光谱区域对样品物质做定性定量的分析。 快速调整(整时间小于3S)。 采用微机测量系统，T-A转换，自动调整"0"和调整"100",具有GOTOλ,时间扫描，自动八联样品架，自动扣除
比色皿误差，浓度多点标定，斜率和载距设置等功能，具有RS-232 接口和并行打印口(印机专用，另行选项配)。 联机功能：通过RS-232串行接口，可利用上层软件做全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程(1次，2次，3次 ),多波长测试，并大大扩展测试功能(除主机功能外)提供数据向Excel 传送方式，便于用户的后期处理。 基于Windows开发的UVCONTROL控制软件，可对主机进行全面控制。包括数据采集(单点测量，光谱扫描定量测定，时间扫描)各种数据处理。 标准化、峰谷检测、面积计算。
图谱的放大、缩小、平滑、导树、四则运算 、1～4 次导树， T～A转换单波长、多波长定量测定。
K系数法、一点工作曲线法，可进行次函数拟合定量分析中异常点剔除。
扫描图谱、工作曲线和测量结果可海量存储，方便您的办公。
测试可以以标准文件或者Excel输出。
