美国Innov-X 便携式矿石分析仪的详细信息
1.SDD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍。
2.分辨率大大地提高到了，<155keV.
3.SDD强大的获取数据能力使仪器分析速度极快。
4.Au的检测下限LOD高达2ppm, 对贵重金属矿石的如Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd的分析有的效果。
5.可以测试Mg、Al、Si，具有良好的检测下限。
6.元素的检测下限LOD在SDD状态下有极大的提高，普遍提高1~15倍。
7.在高含量的矿石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能，可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。
8.可选配真空选件, 在真空状态下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
9.可选配GIS数据采集手簿TRIMBLE，数据与GPS实现绑，可将仪器测试点的矿化信息通过蓝牙传到TRIMBLE上,再与TRIMBLE上自动产生的经度、纬度、海拔进行连接,实现测试信息与GPS同步处理。
