上海 供应数显立式光学计JDG-S2 光学计

上海 供应数显立式光学计JDG-S2 光学计的详细信息

本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等量块，柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。 技术参数 被测件长度 180 mm直接测量范围 ≥10 mm小显示值 0.0001 mm测量力 (2 ±0.2) N不准确度 比较测量时： ±0.00025 mm 直接测量时： ±0.0005mm测量误差 ±(0.5 L/100) μm L是被测长度 mm仪器体积 250 × 150 × 440 mm仪器重量 18 kg标准配件 可调带筋园台、可调园平台、平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽