微区分析X射线荧光光谱仪

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技术参数：

激发
- Mo 靶X光管
功率：30W,电压：48kV
- 测量点尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm


样品室
- 可显示样品的摄像系统(可调焦)
- 手动调节样品台，样品定位简便
- 马达驱动移动的XYZ样品台，
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高)，
样品重量：3kg/6.6 lbs

计算机
- 外置式计算机系统，Windows
操作系统，
- 键盘，鼠标，显示器，打印机
- 菜单式软件，光谱仪参数调整和
数据评估及计算，元素成分及分布显示


检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线，在测量计数率为
10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250，000 cps

光谱仪数据
- 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光谱仪能耗：200W
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置

分析
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测

环境条件
- 周围环境温度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘

SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是新推出的第三代产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。