- 品牌/商标：JEOL
- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 原产地：日本
能量色散形X射线荧光光谱仪 JSX-3100RII
注意: 并不是所有JEOL的产品都适用于任何国家。如果想了解适合于本国的有关JEOL产品的具体信息和详情，请与当地JEOL办事处或代理商联系，谢谢。
免液氮型能量色散形X射线荧光光谱仪
- 用于RoHS符合性筛选
- 高分辨率、免液氮型硅（锂）
半导体检测器 - 用于金属、岩石、土壤、
食品及镀层厚度的常规X射线荧光分析 - 快速高灵敏度分析
| RoHS管制物质的快速、高灵敏度分析 | 操作简便（加载后点击） |
|---|---|
| 使用对重元素具有高灵敏度的硅-锂半导体检测器，兼用对RoHS限制的化学物质的检测实行了优化的X射线过滤器，可实现对微量元素的高灵敏检测。 查看更大的图 | 单击专用分析菜单开始对镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、Br（溴）、铬（Cr）的筛选，对形状及材质进行修正后显示筛选结果。 查看更大的图 |
| 各种形式的分析结果（归档软件） | 镍镀层软件（备选） |
| 该软件提供用户可编程的模板，对RoHs符合性筛选结果进行管理与归档。 查看更大的图 | 该软件可自动校正镀层厚度及基体影响，从而提高镀层含铅的筛选度。 查看更大的图 |
| 分析元素 | 钠至铀 |
|---|---|
| X射线源 | Rh靶，5-50kV，1mA，50W |
| 过滤器 | 4种类型（包括开放式）自动变换 |
| 准直仪 | 直径1 mm、3 mm及 7 mm |
| 检测器 | 免液氮型硅（锂）半导体检测器 |
| 样品室尺寸 | 300mm（直径）x 150 mm（高） |
| 数据处理机 | Windows® XP，液晶显示器，彩色打印机 |
| RoHS分析 | 塑料中的5 种元素， 5种金属元素，锡镀层（备选）及镍镀层（备选） |
| 一般分析 | FP法，薄膜FP法，校准曲线 |
| 备选 | CCD摄像头，16样品交换器，真空系统 |
| 主机尺寸/重量 | 650（宽）x 810（深）x 460（高）；约90 kg |
| 电源 | 单相AC100 V +/-10%，50/60 Hz，15 A，D类接地 |
|---|---|
| 工作环境 | 室温：18-28°；湿度： 40-70% （无冷凝） 无腐蚀性气体、粉尘及有感的振动 |
| 液氮 | 不需要 |
| 主机尺寸（mm） | 650（宽） x 810（深）x 540（高） |
| 重量 | 100 kg |
