E8是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪,其光路系统国内外几十年EDXRF技术;部件采用美国,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构;HeLeeX E8精密度高、准确度、检出限等技术参数过国内外同类仪器。
仪器结构采用人体工程学设计,两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
表面采用汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配;蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
辐射标志警示
迷宫式结构,射线泄漏
连锁设计,测试过程中误打开样品盖时,电路0.1US快速切断X射线。
仪器经第三方检测,X射线剂量率合GB18871-2002《电离辐射护与辐射源基本标准》。
短光路设计:无卤检测分辨率,样品分析效率;降低光管功率、延长仪器使用寿命。
模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器;从而降低准直器对分析元素的影响,元素分辨率。
空气动力学设计,加速光管冷却;降低仪器内部温度。
电路系统合EMC、FCC测试标准
技术快拆样品盘,更换薄膜更方便
分析元素:Na-U
分析时间:60~400秒
配置RoHS检测分析模型,无卤分析模型
软件界面简洁、模块化设计、功能清晰、易操作
HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能;保护用户数据。
HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法;增加样品测试精准度。
HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
应用领域:各种电子电器产品RoHS检测
卤素检测
镀层厚度分析
外形尺寸:380mmx510mmx365mm/长x宽x高
样品仓尺寸:360mm×330mm×50mm/长x宽x高
功率:330W
工作温度:15-30℃
相对湿度≤85%
X-123 Si-PIN探测器,采用原装电致冷半导体探测器
晶体面积:25mm2
分辨率:145eV
X射线管电压:0~50kV
电流:2.0mA
功率:50W
Be窗厚度:0.2mm
使用寿命大于2万小时
灯丝电流:0~2mA
功率:50W
纹波系数:0.1%
8小时稳定性:0.05%
摄像头:500万像素
光斑大小:Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选
多种滤光片、准直器组合,软件自动切换
开关电源
低噪声、大风量风扇
